公开(公告)号：CN102216807B

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN200980146262.6

申请日：2009-11-13

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： J·若里茨马 ,  T·普尔特 ,  G·F·C·M·利杰坦恩 ,  J·H·M·范罗斯马伦 ,  M·M·森斯 ,  T·R·格罗布 ,  M·J·F·M·特尔拉克

IPC: G01T1/20

CPC classification number: G01T1/2018 ,  G01T1/00

Abstract: 描述了一种平铺式检测器装置(1000)和一种制造平铺式辐射检测器(1000)的方法。这种方法的创新特征在于作为各种图像伪影起源的检测器铺瓦(304，304’)的xyz偏差可以通过所述检测器铺瓦(304，304’)的精确尺寸设定和对准而显著地减少。因此，所制造的平铺式辐射检测器的成像质量、成品率和可靠性得到了显著的提高。

公开(公告)号：CN102216807A

公开(公告)日：2011-10-12

申请号：CN200980146262.6

申请日：2009-11-13

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： J·若里茨马 ,  T·普尔特 ,  G·F·C·M·利杰坦恩 ,  J·H·M·范罗斯马伦 ,  M·M·森斯 ,  T·R·格罗布 ,  M·J·F·M·特尔拉克

IPC: G01T1/20

CPC classification number: G01T1/2018 ,  G01T1/00

Abstract: 描述了一种平铺式检测器装置(1000)和一种制造平铺式辐射检测器(1000)的方法。这种方法的创新特征在于作为各种图像伪影起源的检测器铺瓦(304，304’)的xyz偏差可以通过所述检测器铺瓦(304，304’)的精确尺寸设定和对准而显著地减少。因此，所制造的平铺式辐射检测器的成像质量、成品率和可靠性得到了显著的提高。