公开(公告)号：CN101460098A

公开(公告)日：2009-06-17

申请号：CN200780020283.4

申请日：2007-05-22

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： H-I·马克 ,  C·库尔策

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/00

CPC classification number: A61B6/583 ,  G01N2223/303

Abstract: 描述了一种用于校准X射线成像装置的校准设备(140)，所述设备(140)包括：接收单元(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；分析单元(201)，其用于分析所获取的图像以得到增益校正信息；以及校准单元(202)，其用于基于所得到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。

公开(公告)号：CN101460098B

公开(公告)日：2011-04-06

申请号：CN200780020283.4

申请日：2007-05-22

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： H-I·马克 ,  C·库尔策

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/00

CPC classification number: A61B6/583 ,  G01N2223/303

Abstract: 描述了一种用于校准X射线成像装置的校准设备(140)，所述设备(140)包括：接收单元(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；分析单元(201)，其用于分析所获取的图像以得到增益校正信息；以及校准单元(202)，其用于基于所得到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。