公开(公告)号：CN1973213B

公开(公告)日：2010-09-29

申请号：CN200580021181.5

申请日：2005-06-24

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： B·施维瑟 ,  G·沃格特梅尔 ,  K·J·恩格尔

IPC: G01T1/164

CPC classification number: G01T1/1648

Abstract: 本发明涉及X射线装置、X射线探测器和校正强度信号的方法。一种X射线探测器于是包括：用于确定X射线的强度(其包括具有辐照方向的原辐射部分和散射辐射部分)的至少第一传感器元件和第二传感器元件，它们均被提供以用于将X射线转换成第一和第二强度信号；以及滤波元件，其被提供以用于减小在X射线强度中散射辐射的比例，其中第二传感器元件沿辐照方向被布置在滤波元件后面，以及其中固定到滤波元件上的第一传感器元件被提供以用于确定离开滤波元件之前X射线的强度。从第一和第二传感器元件的测量数据计算的散射辐射的比例被提供以用于校正用于后续图像生成的第二强度信号。

公开(公告)号：CN1973213A

公开(公告)日：2007-05-30

申请号：CN200580021181.5

申请日：2005-06-24

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： B·施维瑟 ,  G·沃格特梅尔 ,  K·J·恩格尔

IPC: G01T1/164

CPC classification number: G01T1/1648

Abstract: 本发明涉及X射线装置、X射线探测器和校正强度信号的方法。一种X射线探测器于是包括：用于确定X射线的强度(其包括具有辐照方向的原辐射部分和散射辐射部分)的至少第一传感器元件和第二传感器元件，它们均被提供以用于将X射线转换成第一和第二强度信号；以及滤波元件，其被提供以用于减小在X射线强度中散射辐射的比例，其中第二传感器元件沿辐照方向被布置在滤波元件后面，以及其中固定到滤波元件上的第一传感器元件被提供以用于确定离开滤波元件之前X射线的强度。从第一和第二传感器元件的测量数据计算的散射辐射的比例被提供以用于校正用于后续图像生成的第二强度信号。