公开(公告)号：CN103199338B

公开(公告)日：2016-02-10

申请号：CN201310096023.2

申请日：2013-03-25

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 金龙 ,  陈绍均 ,  郑轶 ,  宋世明

IPC: H01Q1/38 ,  H01Q5/10

Abstract: 本发明涉及一种小型化的LTCC多频天线，包括LTCC陶瓷介质体、天线辐射单元、前端馈电单元和后端加载单元，其特征在于，所述LTCC陶瓷介质体作为天线的基板，所述天线辐射单元埋入到LTCC陶瓷介质体中，所述前端馈电单元位于LTCC陶瓷介质体的前端并与天线辐射单元的前端连接，所述后端加载单元位于LTCC陶瓷介质体的后端并与天线辐射单元的后端连接。本发明的有益效果：采用双层的环形曲折线结构，不仅可使天线工作在多个频段，同时也实现了天线的小型化。

公开(公告)号：CN103376446B

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201310285450.5

申请日：2013-07-09

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 金龙 ,  田忠 ,  温海涛 ,  宋世明

IPC: G01S7/41

Abstract: 本发明公开了一种RCS测试背景对消系统及方法，其能够降低背景RCS，实现更高精度的目标物体RCS测试。所述对消系统包括信号发射单元、信号接收处理单元以及对消体；所述信号发射单元包括发射电路和发射天线，所述发射电路用于产生测试信号，所述发射天线用于发射电路产生的测试信号；所述信号接收处理单元用于接收测试信号的散射信号，并处理散射信号显示测得的RCS；所述对消体位于所述发射天线的副瓣方向，用于消除背景RCS。其通过对RCS测试对消测试系统进行改进，通过设置辅助的对消体，对消降低背景散射信号对RCS测试的影响，实现目标物体RCS的高精度测试。

公开(公告)号：CN103376446A

公开(公告)日：2013-10-30

申请号：CN201310285450.5

申请日：2013-07-09

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 金龙 ,  田忠 ,  温海涛 ,  宋世明

IPC: G01S7/41

Abstract: 本发明公开了一种RCS测试背景对消系统及方法，其能够降低背景RCS，实现更高精度的目标物体RCS测试。所述对消系统包括信号发射单元、信号接收处理单元以及对消体；所述信号发射单元包括发射电路和发射天线，所述发射电路用于产生测试信号，所述发射天线用于发射发射电路产生的测试信号；所述信号接收处理单元用于接收测试信号的散射信号，并处理散射信号显示测得的RCS；所述对消体位于所述发射天线的副瓣方向，用于消除背景RCS。其通过对RCS测试对消测试系统进行改进，通过设置辅助的对消体，对消降低背景散射信号对RCS测试的影响，实现目标物体RCS的高精度测试。

公开(公告)号：CN103199338A

公开(公告)日：2013-07-10

申请号：CN201310096023.2

申请日：2013-03-25

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 金龙 ,  陈绍均 ,  郑轶 ,  宋世明

IPC: H01Q1/38 ,  H01Q5/01

Abstract: 本发明涉及一种小型化的LTCC多频天线，包括LTCC陶瓷介质体、天线辐射单元、前端馈电单元和后端加载单元，其特征在于，所述LTCC陶瓷介质体作为天线的基板，所述天线辐射单元埋入到LTCC陶瓷介质体中，所述前端馈电单元位于LTCC陶瓷介质体的前端并与天线辐射单元的前端连接，所述后端加载单元位于LTCC陶瓷介质体的后端并与天线辐射单元的后端连接。本发明的有益效果：采用双层的环形曲折线结构，不仅可使天线工作在多个频段，同时也实现了天线的小型化。