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公开(公告)号：CN114264453A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202111607955.X
申请日：2021-12-21
Applicant: 电子科技大学
Inventor： 周鹰 , 冀轩亨 , 赵斌兴 , 王静 , 孙启明 , 李斌成
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种提高高精度光学元件反射率/透射率的测量方法，该方法基于分光光度计原理，使用伪随机码以及特定频率载波对单激光器光源进行调制，将分束镜分出的两束光分别作为测量光与参考光，经探测器收集，电路采样，相关累积处理最终得出光学元件反射率/透射率。与传统的测量方法相比，具有更高的信噪比和抗干扰能力，相关累积的算法也提高了检测精度。
