一种试验电磁信号环境构建方法及系统

    公开(公告)号:CN105740602A

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201610042310.9

    申请日:2016-01-22

    Abstract: 本发明属于电磁环境试验技术领域,公开一种试验电磁信号环境构建方法及系统,该方法采用系统所述的测量传感器,将采集的电磁环境辐射源参数信息,通过数据传输线传输至要素信息收集/分发中心;所述要素信息收集/分发中心与电磁环境计算/控制中心通过数据线相连,且所述要素信息收集/分发中心输出端与电磁信号合成发射终端相连。本发明采用了基于元要素的信号描述方法对构建电磁环境的辐射源信号进行建模,提高了信号环境模型的精确度和完备性;采用了元要素和分频段实时评价相结合的电磁环境评价方法,能快速评价并定位不符合要求的辐射源元要素信息,便于快速调整辐射源工作参数,提高了电磁环境构建效率、可重复性,有利于提高费效比。

    一种试验电磁信号环境构建方法及系统

    公开(公告)号:CN105740602B

    公开(公告)日:2019-03-19

    申请号:CN201610042310.9

    申请日:2016-01-22

    Abstract: 本发明属于电磁环境试验技术领域,公开一种试验电磁信号环境构建方法及系统,该方法采用系统所述的测量传感器,将采集的电磁环境辐射源参数信息,通过数据传输线传输至要素信息收集/分发中心;所述要素信息收集/分发中心与电磁环境计算/控制中心通过数据线相连,且所述要素信息收集/分发中心输出端与电磁信号合成发射终端相连。本发明采用了基于元要素的信号描述方法对构建电磁环境的辐射源信号进行建模,提高了信号环境模型的精确度和完备性;采用了元要素和分频段实时评价相结合的电磁环境评价方法,能快速评价并定位不符合要求的辐射源元要素信息,便于快速调整辐射源工作参数,提高了电磁环境构建效率、可重复性,有利于提高费效比。

    一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统

    公开(公告)号:CN105676006B

    公开(公告)日:2018-09-28

    申请号:CN201610053161.6

    申请日:2016-01-22

    Abstract: 本发明属于系统级电磁兼容测试技术领域,公开一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统,该方法采用的系统包括:方舱车,所述方舱车前部的车头正前设有垂直的吸波材料,车头的上部设有倾斜的吸波材料;方舱车后部的屏蔽方舱内设有不同工作频段的衰减器组、测试仪器,所述不同工作频段的衰减器组通过预设信号电缆与屏蔽方舱外二维转台上设的测试天线相连;本发明解决了电子设备正常使用时危害场预测的复杂问题,能够准确预测用频设备在空间任一位置处的危害辐射场。简化了测试复杂度,具有很好的推广应用价值。

    一种基于数据库触发器的告警方法

    公开(公告)号:CN105740129A

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201610070066.7

    申请日:2016-02-02

    CPC classification number: G06F11/325 G06F11/327

    Abstract: 本发明属于数据库系统应用及告警装置技术领域,公开的一种基于数据库触发器的告警方法,采用数据库触发器(Trigger)技术,在每次对状态值所在表进行插入、更新时执行比较,判定告警后自动更新告警库表,包括:告警产生、告警显示和告警操作方法,告警产生是系统对状态值a操作后发生更改后,与告警阈值b相比较,告警显示采用定时轮询机制,每隔设定的时间间隔t查询告警库,告警操作确认告警转为静态确认。本发明适用于大多数告警场合,集中对告警信息进行不间断刷新显示,使得操作者对新产生的告警更为敏感。减少了前台应用系统的开发难度,避免多任务分布式系统漏报、重复报带来的数据不同步,提高了告警信息的一致性和准确性。

    一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统

    公开(公告)号:CN105676006A

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201610053161.6

    申请日:2016-01-22

    Abstract: 本发明属于系统级电磁兼容测试技术领域,公开一种基于实测数据的电子设备危害辐射场预测方法及系统,该方法采用的系统包括:方舱车,所述方舱车前部的车头正前设有垂直的吸波材料,车头的上部设有倾斜的吸波材料;方舱车后部的屏蔽方舱内设有不同工作频段的衰减器组、测试仪器,所述不同工作频段的衰减器组通过预设信号电缆与屏蔽方舱外二维转台上设的测试天线相连;本发明解决了电子设备正常使用时危害场预测的复杂问题,能够准确预测用频设备在空间任一位置处的危害辐射场。简化了测试复杂度,具有很好的推广应用价值。

Patent Agency Ranking