公开(公告)号：CN106201793B

公开(公告)日：2021-07-30

申请号：CN201610365803.6

申请日：2016-05-27

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 芝原信一 ,  川上大辅 ,  井学丰

IPC: G06F11/22 ,  G01R31/3185

Abstract: 本发明涉及半导体装置和诊断测试方法。半导体装置包括存储电路、使用存储电路中存储的数据执行处理并且在执行处理时将数据写入存储电路中的处理电路、在处理电路不执行处理时对处理电路执行扫描测试的扫描测试电路以及在对处理电路执行扫描测试时禁止从处理电路到存储电路的数据写入的禁止电路。

公开(公告)号：CN106201793A

公开(公告)日：2016-12-07

申请号：CN201610365803.6

申请日：2016-05-27

Applicant: 瑞萨电子株式会社

Inventor： 芝原信一 ,  川上大辅 ,  井学丰

IPC: G06F11/22 ,  G01R31/3185

CPC classification number: G01R31/3177 ,  G01R31/31724 ,  G06F11/27 ,  G06F11/2236 ,  G01R31/318533

Abstract: 本发明涉及半导体装置和诊断测试方法。半导体装置包括存储电路、使用存储电路中存储的数据执行处理并且在执行处理时将数据写入存储电路中的处理电路、在处理电路不执行处理时对处理电路执行扫描测试的扫描测试电路以及在对处理电路执行扫描测试时禁止从处理电路到存储电路的数据写入的禁止电路。