半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103678012B

    公开(公告)日:2018-03-02

    申请号:CN201310447622.4

    申请日:2013-09-25

    CPC classification number: H03K17/223 H03K3/012 H03L5/02

    Abstract: 本发明的实施例提供一种具有可以可靠地检测电源电压减少的上电复位电路的半导体器件。在半导体器件上提供的上电复位电路包括:第一比较电路,其比较初级电压与参考电压;以及第二比较电路,其比较次级电压与参考值。上电复位电路基于第一比较电路和第二比较电路的比较结果发出复位信号。

    半导体器件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103678012A

    公开(公告)日:2014-03-26

    申请号:CN201310447622.4

    申请日:2013-09-25

    CPC classification number: H03K17/223 H03K3/012 H03L5/02

    Abstract: 本发明的实施例提供一种具有可以可靠地检测电源电压减少的上电复位电路的半导体器件。在半导体器件上提供的上电复位电路包括:第一比较电路,其比较初级电压与参考电压;以及第二比较电路,其比较次级电压与参考值。上电复位电路基于第一比较电路和第二比较电路的比较结果发出复位信号。

Patent Agency Ranking