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公开(公告)号:CN119415062A
公开(公告)日:2025-02-11
申请号:CN202411336238.1
申请日:2024-09-24
Applicant: 珠海格力电器股份有限公司 , 珠海零边界集成电路有限公司
IPC: G06F7/483 , G06F17/16 , G06N3/0442 , G06N3/08 , G06N3/063
Abstract: 本发明实施例提供了一种嵌入式系统的计算方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:通过嵌入式系统响应时间序列预测需求,获取家居设备的时间序列数据;若时间序列数据存在浮点数,将时间序列数据中的浮点数转换为定点数,得到待处理时间序列数据;获取上位机对待处理时间序列数据进行偏置处理得到的偏置结果;从上位机获取激活函数结果对照关系,基于激活函数结果对照关系得到与偏置结果对应的时间序列预测数据。通过优化LSTM网络的计算方法,有效地提高输出结果的速度,进而提高家居设备对时间序列预测的预测速度及自然语言的处理速度。
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公开(公告)号:CN119716472A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411827411.8
申请日:2024-12-12
Applicant: 珠海格力电器股份有限公司 , 珠海零边界集成电路有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明实施例提供了一种芯片的测试方法、系统、电子设备和存储介质,该方法的信号编解码器通过第一引脚向芯片的解析器发送从测试终端接收到的第一电平数据流,以使解析器根据第一电平数据流向至少一个处理模块发送第一电平信号,然后接收解析器通过第一引脚发送的第二电平数据流,第二电平数据流为信号编解码器根据从至少一个处理模块接收的第二电平信号进行编码得到,并将第二电平数据流发送至测试终端,从而在芯片测试的过程中,通过第一引脚对芯片内部各种信号的电平进行写入和读取,从而减少了测试芯片内部模块时所需的引脚,在外部引脚较少的芯片上也能够进行芯片测试。
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公开(公告)号:CN119739614A
公开(公告)日:2025-04-01
申请号:CN202411628876.0
申请日:2024-11-14
Applicant: 珠海格力电器股份有限公司 , 珠海零边界集成电路有限公司
IPC: G06F11/362
Abstract: 本发明实施例提供了一种芯片调试系统,包括调试仿真器、与之相连接主机和目标芯片;主机检测用户的调试操作生成调试数据,将其封装为预设协议格式的第一数据包;接收调试仿真器发送的预设协议格式的第二数据包;调试仿真器接收主机发送的第一数据包并解析成调试数据,根据它通过信号线给目标芯片发送调试信号,再接收目标芯片反馈的调试信号获得调试结果,将其封装为预设协议格式的第二数据包发送给主机;目标芯片通过信号线接收调试仿真器发送的调试信号,根据它获得调试数据进行调试处理得到调试结果,根据结果通过信号线给调试仿真器发送结果信号。本发明的预设协议设计双线调试协议和数据帧结构,用一根信号线即可进行仿真、调试和固件升级。
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