电子元器件开短路实验的方法及测试装置

    公开(公告)号:CN104569711B

    公开(公告)日:2018-02-09

    申请号:CN201310500905.0

    申请日:2013-10-22

    Abstract: 本发明提供一种电子元器件开短路实验的方法,包括以下步骤:S1、测试装置初始化,遥控启动所述测试装置;S2、通过拨码开关设置继电器的标志位并存储所述标志位信息;S3、遥控设置开短路实验的时间;S4、MCU读取所述标志位信息并根据所述标志位信息控制其所述标志位对应的继电器吸合,持续一定时间后,所述MCU控制所述继电器断开,开短路实验完毕。还涉及一种测试装置。本发明的电子元器件开短路的试验方法通过程序控制多个继电器的吸合和断开控制元器件开短路实验的进程,实现了实验过程的自动化,提高了实验的效率。测试装置,结构简单,操作方便,壳体上安装微动开关检测壳盖的状态,确保了操作人员的安全。

    电子元器件开短路实验的方法及测试装置

    公开(公告)号:CN104569711A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201310500905.0

    申请日:2013-10-22

    Abstract: 本发明提供一种电子元器件开短路实验的方法,包括以下步骤:S1、测试装置初始化,遥控启动所述测试装置;S2、通过拨码开关设置继电器的标志位并存储所述标志位信息;S3、遥控设置开短路实验的时间;S4、MCU读取所述标志位信息并根据所述标志位信息控制其所述标志位对应的继电器吸合,持续一定时间后,所述MCU控制所述继电器断开,开短路实验完毕。还涉及一种测试装置。本发明的电子元器件开短路的试验方法通过程序控制多个继电器的吸合和断开控制元器件开短路实验的进程,实现了实验过程的自动化,提高了实验的效率。测试装置,结构简单,操作方便,壳体上安装微动开关检测壳盖的状态,确保了操作人员的安全。

    测试装置
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN203551713U

    公开(公告)日:2014-04-16

    申请号:CN201320654287.0

    申请日:2013-10-22

    Abstract: 本实用新型提供一种测试装置,用于电子元器件开短路实验,包括壳体、壳盖、控制器、继电器和拨码开关,壳盖和壳体可活动连接,壳体和壳盖相配合形成封闭的箱体,控制器、继电器和拨码开关安装在箱体中;控制器包括电源电路、电源转换电路、主芯片电路、待测主板控制电路、接收电路和短路点控制电路;继电器的开关端串联在待测主板控制电路中,继电器的线圈串联拨码开关连接短路点控制电路,短路点控制电路通过控制继电器的通断对短路点进行控制;电源电路用于为控制器的主板供电;电源转换电路用于向主芯片电路供电;待测主板控制电路用于控制被测试元器件/主板的供电;接收电路用于接收遥控信息。其实现实验过程的自动化,提高了实验效率。

    应变片焊接装置
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN204366228U

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN201420693918.4

    申请日:2014-11-18

    Abstract: 本实用新型提供了一种应变片焊接装置,包括:固定台(10);卡线部(11),设置在固定台(10)上;焊接操作部(12),开设在固定台(10)上并位于卡线部(11)的延伸方向上。本实用新型的技术方案有效地解决了现有技术中的应变片焊接效率低下的问题。

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