一种探针夹具及芯片电性测试装置

    公开(公告)号:CN110850272A

    公开(公告)日:2020-02-28

    申请号:CN201911121030.7

    申请日:2019-11-15

    Abstract: 本发明涉及芯片检测技术领域,公开了一种探针夹具及芯片电性测试装置,该探针夹具包括顶板和底板,底板上设有多个槽孔;设于顶板和底板之间且与底板垂直的多个探针,多个探针与底板上的槽孔一一对应,每组相对应的探针与槽孔中,探针的一端伸入槽孔且与槽孔间隙配合,另一端贯穿顶板且凸出顶板背离底板一侧的表面,每个探针的两端之间设有沿探针径向延伸的凸出部,且每个探针的凸出部与底板之间设有弹性组件;设于底板上的接口组件,接口组件包括多个与探针一一对应的针脚,每组相互对应的探针与针脚之间电连接。该探针组件结构简单,便于维护,有利于降低测试产业成本,且对探针性能要求较低,信号传递环节较少,可靠性强。

    基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质

    公开(公告)号:CN110632499A

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201910902225.9

    申请日:2019-09-23

    Inventor: 刘超 孙阳 余景亮

    Abstract: 本公开提供一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质。所述基于测试对象的测试向量生成方法包括:根据测试对象获取一个或多个测试文件;对所述测试文件进行处理得到待输出数据;利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据,并将所述波形格式的数据进行转化,以便生成所述测试对象的测试向量。基于本发明的技术方案,提高了测试向量的生成效率,并且生成的测试向量的可读性高,便于测试向量的在线调试。

    一种测试座以及测试设备

    公开(公告)号:CN113092982B

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202010023061.5

    申请日:2020-01-09

    Abstract: 本发明涉及测试装置技术领域,特别地涉及一种测试座以及测试设备。本发明提供的测试座,测试座包括第一测试座板、第二测试座板、第一密封件、第二密封件以及支撑框。第一测试座板、第二测试座板以及支撑框构成密封空腔,同时,分别在第一测试座板以及第二测试座板的外侧设置第一密封件以及第二密封件,进一步加强密封空腔的密封性能。故可有效地将外界环境与测试座内部隔离,使得处于密封空腔内的探针等测试元件处于密封的环境中,使得本申请提供的测试座在盐雾、尘土环境条件下的检测时,可有效地保护密封空腔内的探针等测试元件,避免机械零部件腐蚀、磨损失效,避免电路短路或断路,进而提高芯片的测试精度。

    一种测试座以及测试设备

    公开(公告)号:CN113092982A

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN202010023061.5

    申请日:2020-01-09

    Abstract: 本发明涉及测试装置技术领域,特别地涉及一种测试座以及测试设备。本发明提供的测试座,测试座包括第一测试座板、第二测试座板、第一密封件、第二密封件以及支撑框。第一测试座板、第二测试座板以及支撑框构成密封空腔,同时,分别在第一测试座板以及第二测试座板的外侧设置第一密封件以及第二密封件,进一步加强密封空腔的密封性能。故可有效地将外界环境与测试座内部隔离,使得处于密封空腔内的探针等测试元件处于密封的环境中,使得本申请提供的测试座在盐雾、尘土环境条件下的检测时,可有效地保护密封空腔内的探针等测试元件,避免机械零部件腐蚀、磨损失效,避免电路短路或断路,进而提高芯片的测试精度。

    用于芯片测试装置的装载器及芯片测试装置

    公开(公告)号:CN112710872A

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN201911027531.9

    申请日:2019-10-24

    Inventor: 孙阳 刘超 余景亮

    Abstract: 本发明提出了一种用于芯片测试装置的装载器及芯片测试装置,其中,所述装载器包括:底座部件,具有放置芯片的凹槽,并能将所述芯片与芯片测试装置的测试器电连接;压盖部件,可拆卸地装配在所述底座部件上;制冷部件,设在所述凹槽内并被所述压盖部件与所述芯片所夹持;其中,所述压盖部件能通过所述制冷部件将所述芯片紧压在所述底座部件的凹槽中。本发明的装载器能够便于验证芯片的低温工作性能。

    基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质

    公开(公告)号:CN110632499B

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN201910902225.9

    申请日:2019-09-23

    Inventor: 刘超 孙阳 余景亮

    Abstract: 本公开提供一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质。所述基于测试对象的测试向量生成方法包括:根据测试对象获取一个或多个测试文件;对所述测试文件进行处理得到待输出数据;利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据,并将所述波形格式的数据进行转化,以便生成所述测试对象的测试向量。基于本发明的技术方案,提高了测试向量的生成效率,并且生成的测试向量的可读性高,便于测试向量的在线调试。

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