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公开(公告)号：CN204177979U
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201420642498.7
申请日：2014-10-31
Applicant: 环境保护部核与辐射安全中心
IPC: G01T1/36
Abstract: 本实用新型提供了一种就地高纯锗γ谱仪角响应校准刻度装置，其特征在于包括：探测器定位组件，贴合就地高纯锗γ谱仪的探测器而放置，用于固定探测器的位置；刻度源放置轨道，刻度源放置轨道为0～90°的弧形，在刻度源放置轨道上，在光子入射角θ＝0°和θ＝90°之间的位置上每隔一定间隔设置一个刻度源放置孔；以及刻度源放置轨道定位组件，紧贴刻度源放置轨道，用于固定刻度源放置轨道的位置。根据本实用新型的技术方案，能够简单、准确、高效地实现就地高纯锗γ谱仪角响应校准刻度。
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