公开(公告)号：CN102221410B

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201110073043.9

申请日：2011-03-25

Applicant: 特斯托股份公司

Inventor： M·斯特拉特曼 ,  S·欣克尔 ,  D·奥尔 ,  P·查恩 ,  A·梅塞施米德

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/02

CPC classification number: G01J5/522 ,  G01J5/02 ,  G01J5/025 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0859 ,  G01J5/089 ,  G01J2005/0074 ,  G01J2005/0077

Abstract: 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。

公开(公告)号：CN102221410A

公开(公告)日：2011-10-19

申请号：CN201110073043.9

申请日：2011-03-25

Applicant: 特斯托股份公司

Inventor： M·斯特拉特曼 ,  S·欣克尔 ,  D·奥尔 ,  P·查恩 ,  A·梅塞施米德

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/02

CPC classification number: G01J5/522 ,  G01J5/02 ,  G01J5/025 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0859 ,  G01J5/089 ,  G01J2005/0074 ,  G01J2005/0077

Abstract: 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。