公开(公告)号：CN104865239B

公开(公告)日：2019-03-22

申请号：CN201510086901.1

申请日：2015-02-17

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 田中贵茂 ,  白木裕章 ,  工藤晃嗣

IPC: G01N21/67

Abstract: 本发明提供等离子光谱分析方法，使得等离子发光的再现性高。作为解决手段，本发明的等离子光谱分析方法特征在于，其包括检测通过施加电压而产生的等离子的发光的检测工序和不检测等离子的发光的非检测工序，反复进行所述检测工序和所述非检测工序，在所述检测工序中，交替地进行产生等离子的等离子产生工序和不产生等离子的等离子非产生工序。由此，能够提高等离子发光的再现性。

公开(公告)号：CN107024593A

公开(公告)日：2017-08-08

申请号：CN201710057508.9

申请日：2017-01-26

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 松本大辅 ,  田中贵茂 ,  小田垣徹

IPC: G01N35/00 ,  G01N35/04

CPC classification number: G01N35/0098 ,  G01N21/11 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/645 ,  G01N21/76 ,  G01N33/54326 ,  G01N33/54386 ,  G01N33/582 ,  G01N35/1016 ,  G01N2021/0378 ,  G01N2021/6473 ,  G01N2021/6482 ,  G01N2035/0412 ,  G01N2035/0436 ,  G01N35/00 ,  G01N35/04 ,  G01N2035/0401

Abstract: 本发明提供分析工具以及分析装置。分析工具用于安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置。所述分析工具包括：光测量井，所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液，并且测量所述测量溶液。所述光测量井包括：开口，穿过所述开口分配所述测量溶液；测量溶液保持部，所述测量溶液保持部保持穿过所述开口分配的所述测量溶液；以及发射部，所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射，并且所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射。所述测量光是荧光或者化学发光。所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。

公开(公告)号：CN104865239A

公开(公告)日：2015-08-26

申请号：CN201510086901.1

申请日：2015-02-17

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 田中贵茂 ,  白木裕章 ,  工藤晃嗣

IPC: G01N21/67

Abstract: 本发明提供等离子光谱分析方法，使得等离子发光的再现性高。作为解决手段，本发明的等离子光谱分析方法特征在于，其包括检测通过施加电压而产生的等离子的发光的检测工序和不检测等离子的发光的非检测工序，反复进行所述检测工序和所述非检测工序，在所述检测工序中，交替地进行产生等离子的等离子产生工序和不产生等离子的等离子非产生工序。由此，能够提高等离子发光的再现性。