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公开(公告)号：CN100432754C
公开(公告)日：2008-11-12
申请号：CN200580022716.0
申请日：2005-06-29
Applicant: 爱科来株式会社
IPC: G02F1/13 , G02F1/1345
CPC classification number: G02F1/1309 , G01N33/48785 , G02F1/1313 , G09G3/006 , G09G3/18 , G09G3/36 , G09G2330/10 , G09G2330/12
Abstract: 本发明提供一种液晶显示装置和具备该装置的分析装置，该液晶显示装置能够检测由于混入液晶显示面板内的导电性杂质在公用电极和其对置电极之间发生短路而引起的显示不良，血糖计(10)包括显示部(11)和微机(15)。微机(15)在对显示部(11)的液晶显示面板(11a)进行显示不良的检查时，将端口(15a)、(15b)用作显示不良检查用的I/O端口使用。微机(15)检查从端口(15a)传送的检查信号是否能够在另一端口(15b)接收，进行显示不良的检查。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1875267A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200480031985.9
申请日：2004-10-19
Applicant: 爱科来株式会社
Inventor： 川相拓司
IPC: G01N27/416 , G01N27/327
CPC classification number: G01N27/3273 , Y10T436/11 , Y10T436/112499 , Y10T436/115831 , Y10T436/12 , Y10T436/144444
Abstract: 本发明涉及利用输出与分析用具(2)的输出相关的物理量的二重积分电路(11)，进行试样分析的技术。在本发明中，从向二重积分电路(11)中输入分析用具的输出开始到从二重积分电路(11)开始输出物理量之间的时间间隔，在确认向分析用具(2)供给试样的前后是不同的。
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公开(公告)号：CN100476423C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200480031985.9
申请日：2004-10-19
Applicant: 爱科来株式会社
Inventor： 川相拓司
IPC: G01N27/416 , G01N27/327
CPC classification number: G01N27/3273 , Y10T436/11 , Y10T436/112499 , Y10T436/115831 , Y10T436/12 , Y10T436/144444
Abstract: 本发明涉及利用输出与分析用具(2)的输出相关的物理量的二重积分电路(11)，进行试样分析的技术。在本发明中，从向二重积分电路(11)中输入分析用具的输出开始到从二重积分电路(11)开始输出物理量之间的时间间隔，在确认向分析用具(2)供给试样的前后是不同的。
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公开(公告)号：CN1981235A
公开(公告)日：2007-06-13
申请号：CN200580022716.0
申请日：2005-06-29
Applicant: 爱科来株式会社
IPC: G02F1/13 , G02F1/1345
CPC classification number: G02F1/1309 , G01N33/48785 , G02F1/1313 , G09G3/006 , G09G3/18 , G09G3/36 , G09G2330/10 , G09G2330/12
Abstract: 本发明提供一种液晶显示装置和具备该装置的分析装置，该液晶显示装置能够检测由于混入液晶显示面板内的导电性杂质在公用电极和其对置电极之间发生短路而引起的显示不良，血糖计(10)包括显示部(11)和微机(15)。微机(15)在对显示部(11)的液晶显示面板(11a)进行显示不良的检查时，将端口(15a)、(15b)用作显示不良检查用的I/O端口使用。微机(15)检查从端口(15a)传送的检查信号是否能够在另一端口(15b)接收，进行显示不良的检查。
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公开(公告)号：CN100516858C
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200580011028.4
申请日：2005-04-08
Applicant: 爱科来株式会社
Inventor： 川相拓司
IPC: G01N27/28 , G01N27/327 , G01N27/416 , G01N33/483 , G01N33/66 , G01N33/92
CPC classification number: G01N33/48771 , G01N33/54366
Abstract: 本发明涉及一种分析装置(1)，安装并使用分析用具(2)，并且对供给分析用具(2)的试样中所含的特定成分进行分析。该分析装置(1)具备：含有可以选择相互接触状态与非接触状态的第一和第二检测用端子(11A、11B、12A、12B)的1个以上的检测用端子对(11、12)；用于检测第一和第二检测用端子(11A、11B、12A、12B)的接触状态的检测单元(15)；和用于根据检测单元(15)的检测结果，检测1个以上的检测端子对(11、12)的异常情况的异常检测单元(16)。
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公开(公告)号：CN1942760A
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN200580011028.4
申请日：2005-04-08
Applicant: 爱科来株式会社
Inventor： 川相拓司
IPC: G01N27/28 , G01N27/327 , G01N27/416 , G01N33/483 , G01N33/66 , G01N33/92
CPC classification number: G01N33/48771 , G01N33/54366
Abstract: 本发明涉及一种分析装置(1)，安装并使用分析用具(2)，并且对供给分析用具(2)的试样中所含的特定成分进行分析。该分析装置(1)具备：含有可以选择相互接触状态与非接触状态的第一和第二检测用端子(11A、11B、12A、12B)的1个以上的检测用端子对(11、12)；用于检测第一和第二检测用端子(11A、11B、12A、12B)的接触状态的检测单元(15)；和用于根据检测单元(15)的检测结果，检测1个以上的检测端子对(11、12)的异常情况的异常检测单元(16)。
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