分析器具供给装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1745304B

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN200480003348.0

    申请日:2004-01-27

    CPC classification number: B65G47/1471 G01N35/04

    Abstract: 本发明提供一种分析器具供给装置(X1),包括用于收容多个分析器具(4A、4B)的收容部、以及具有用于放置收容在该收容部中的分析器具(4A、4B)的一个以上的载置部(21、22),且用于逐个搬送分析器具(4A、4B)的搬送体(2)。收容部具有用单独收容多个分析器具(4A、4B)的多个收容空间(11、12)。优选的是分析器具供给装置(X1)以每个收容空间(11、12)可以选择能从此收容空间(11、12)取出分析器具(4A、4B)的状态和不能取出分析器具(4A、4B)的状态的方式构成。

    分析器具供给装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1745304A

    公开(公告)日:2006-03-08

    申请号:CN200480003348.0

    申请日:2004-01-27

    CPC classification number: B65G47/1471 G01N35/04

    Abstract: 本发明提供一种分析器具供给装置(X1),包括用于收容多个分析器具(4A、4B)的收容部、以及具有用于放置收容在该收容部中的分析器具(4A、4B)的一个以上的载置部(21、22),且用于逐个搬送分析器具(4A、4B)的搬送体(2)。收容部具有用单独收容多个分析器具(4A、4B)的多个收容空间(11、12)。优选的是分析器具供给装置(X1)以每个收容空间(11、12)可以选择能从此收容空间(11、12)取出分析器具(4A、4B)的状态和不能取出分析器具(4A、4B)的状态的方式构成。

    分析系统
    3.
    发明公开
    分析系统 审中-公开

    公开(公告)号:CN119000906A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202410600573.1

    申请日:2024-05-15

    Abstract: 本发明提供一种分析系统,具有:分析部,对检体进行分析,并且能够切换第一测定模式和包含与所述第一测定模式不同的测定项目的第二测定模式;及管理部,基于委托了对所述检体设定的检查的诊疗科的信息,从所述分析部的所述第一测定模式和所述第二测定模式中选择测定模式。

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