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公开(公告)号：CN103052993A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201180036990.9
申请日：2011-05-27
Applicant: 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
Inventor： W·斯科特·维拉瑞尔·费勒尔 , 艾哈迈德·S·坦塔维 , 埃里克·H·沃克里克
CPC classification number: G01R31/31908 , G01R31/2834 , G06F11/263 , G06F11/2733 , G06F17/00 , G11C29/56
Abstract: 一种用于自动测试设备的系统。在一种实施例中，该系统包括被编程为提供测试图形以及通往至少一个被测器件(DUT)的接口的可配置集成电路(IC)。该系统还包括通往所述至少一个DUT的连接，其中所述连接被直接耦合在所述可配置IC与所述至少一个DUT之间。
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