公开(公告)号：CN103840878B

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201410066728.4

申请日：2014-02-26

Applicant: 烽火通信科技股份有限公司

Inventor： 李尧 ,  陈娟 ,  彭阳 ,  张强

IPC: H04B10/073

Abstract: 本发明公开了一种OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统及方法，涉及光传送网领域，该方法包括以下步骤：建立一个N×N矩阵；业务信号依次接入OTN设备的辅测框中支路接口盘的N个光接口，同时，系统将辅测框中第一线路接口盘线路侧光接口的光信号依次接入待测框中第二线路接口盘的线路侧对应光接口，系统按照N×N矩阵，将第二线路接口盘的背板侧电接口的M个ODU0/1颗粒分配到第三线路接口盘各线路侧光接口相应的背板侧电接口中；以相邻单盘为一组，依次遍历OTN设备所支持的所有槽位。本发明能有效提高测试效率，充分测试OTN设备支持ODU0/1等较小颗粒的电交叉容量。

公开(公告)号：CN103840878A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201410066728.4

申请日：2014-02-26

Applicant: 烽火通信科技股份有限公司

Inventor： 李尧 ,  陈娟 ,  彭阳 ,  张强

IPC: H04B10/073

Abstract: 本发明公开了一种OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统及方法，涉及光传送网领域，该方法包括以下步骤：建立一个N×N矩阵；业务信号依次接入OTN设备的辅测框中支路接口盘的N个光接口，同时，系统将辅测框中第一线路接口盘线路侧光接口的光信号依次接入待测框中第二线路接口盘的线路侧对应光接口，系统按照N×N矩阵，将第二线路接口盘的背板侧电接口的M个ODU0/1颗粒分配到第三线路接口盘各线路侧光接口相应的背板侧电接口中；以相邻单盘为一组，依次遍历OTN设备所支持的所有槽位。本发明能有效提高测试效率，充分测试OTN设备支持ODU0/1等较小颗粒的电交叉容量。