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公开(公告)号:CN110061048B
公开(公告)日:2020-09-29
申请号:CN201910348994.9
申请日:2019-04-28
Applicant: 湘潭大学
IPC: H01L29/08 , H01L29/423 , H01L29/47 , H01L21/332 , H01L29/74 , H01L29/745
Abstract: 本发明公开了一种基于肖特基二极管的MOS场控晶闸管,包括阳极金属、位于阳极金属上的P+阳极、位于P+阳极上的N FS层、位于N FS层上的N‑base区;N‑base区顶层表面分布有第一类阴极金属、第二类阴极金属、栅介质层;栅介质层上方设置多晶硅栅;N‑base区顶端靠左设置P well区,P well区顶端靠右设置N well区,N well区的顶端靠右设置P+区;N well和P+区的一部分位于多晶硅栅下方。本发明能够解决MCT关断过程中off‑FET中存在的反复充电和放电问题,减少MCT在脉冲电路中的关断时间;同时,缓解MCT阴极金属边缘处的电流集中,提高器件的可靠性。
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公开(公告)号:CN110061048A
公开(公告)日:2019-07-26
申请号:CN201910348994.9
申请日:2019-04-28
Applicant: 湘潭大学
IPC: H01L29/08 , H01L29/423 , H01L29/47 , H01L21/332 , H01L29/74 , H01L29/745
Abstract: 本发明公开了一种基于肖特基二极管的MOS场控晶闸管,包括阳极金属、位于阳极金属上的P+阳极、位于P+阳极上的N FS层、位于N FS层上的N-base区;N-base区顶层表面分布有第一类阴极金属、第二类阴极金属、栅介质层;栅介质层上方设置多晶硅栅;N-base区顶端靠左设置P well区,P well区顶端靠右设置N well区,N well区的顶端靠右设置P+区;N well和P+区的一部分位于多晶硅栅下方。本发明能够解决MCT关断过程中off-FET中存在的反复充电和放电问题,减少MCT在脉冲电路中的关断时间;同时,缓解MCT阴极金属边缘处的电流集中,提高器件的可靠性。
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