公开(公告)号：CN117237336B

公开(公告)日：2024-02-23

申请号：CN202311489898.9

申请日：2023-11-10

Applicant: 湖南科技大学

Inventor： 李宁睿 ,  王宪 ,  满英杰

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/13 ,  G06V10/764

Abstract: 本发明公开的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质，涉及图像数据处理技术领域，本发明以标准的金属化陶瓷环作为对比标准，不需要采集各种样式的金属化陶瓷环缺陷，节省了采集数据的时间；另外，通过不同角度对金属化陶瓷环进行检测，并且将对应不同角度的灰度图像中的像素点进行编号，并且按照预设序列间隔依次进行缺陷检测，提高了金属化陶瓷环缺陷检测的准确率以及效率。

公开(公告)号：CN117237336A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202311489898.9

申请日：2023-11-10

Applicant: 湖南科技大学

Inventor： 李宁睿 ,  王宪 ,  满英杰

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/13 ,  G06V10/764

Abstract: 本发明公开的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质，涉及图像数据处理技术领域，本发明以标准的金属化陶瓷环作为对比标准，不需要采集各种样式的金属化陶瓷环缺陷，节省了采集数据的时间；另外，通过不同角度对金属化陶瓷环进行检测，并且将对应不同角度的灰度图像中的像素点进行编号，并且按照预设序列间隔依次进行缺陷检测，提高了金属化陶瓷环缺陷检测的准确率以及效率。