公开(公告)号：CN119295436B

公开(公告)日：2025-03-18

申请号：CN202411803445.3

申请日：2024-12-10

Applicant: 湖南科技大学

Inventor： 王宪 ,  肖逸松 ,  刘梦莲

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G06T7/187 ,  G06T7/62 ,  G06T3/4007 ,  G06T3/4046 ,  G06T3/4053 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种金属化陶瓷环表面缺陷检测方法，涉及金属化陶瓷环检测技术领域，所述检测方法先设计其他缺陷检测分支和针孔缺陷检测分支；在其他缺陷检测分支中，设计缺陷定位模块和缺陷分类模块两个模块，分别处理定位问题和分类问题，其中在缺陷分类模块中，模块的输入预先经过双线性插值超分辨率处理；在针孔缺陷检测分支中，分别使用深度学习方法和连通分量分析方法分别进行针孔缺陷检测，再对检测结果进行融合；其中，缺陷定位模块对模块中使用的骨干网络和训练时的损失函数进行了改进。本发明的检测方法，实现了对具有缺陷类别多且类间差距小、缺陷面积小和缺陷样本数量少且样本不均衡等特点的金属化陶瓷环表面缺陷有效的检测。

公开(公告)号：CN119295436A

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202411803445.3

申请日：2024-12-10

Applicant: 湖南科技大学

Inventor： 王宪 ,  肖逸松 ,  刘梦莲

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G06T7/187 ,  G06T7/62 ,  G06T3/4007 ,  G06T3/4046 ,  G06T3/4053 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种金属化陶瓷环表面缺陷检测方法，涉及金属化陶瓷环检测技术领域，所述检测方法先设计其他缺陷检测分支和针孔缺陷检测分支；在其他缺陷检测分支中，设计缺陷定位模块和缺陷分类模块两个模块，分别处理定位问题和分类问题，其中在缺陷分类模块中，模块的输入预先经过双线性插值超分辨率处理；在针孔缺陷检测分支中，分别使用深度学习方法和连通分量分析方法分别进行针孔缺陷检测，再对检测结果进行融合；其中，缺陷定位模块对模块中使用的骨干网络和训练时的损失函数进行了改进。本发明的检测方法，实现了对具有缺陷类别多且类间差距小、缺陷面积小和缺陷样本数量少且样本不均衡等特点的金属化陶瓷环表面缺陷有效的检测。