公开(公告)号：CN114624006A

公开(公告)日：2022-06-14

申请号：CN202210207671.X

申请日：2022-03-03

Applicant: 湖南大学

Inventor： 陈江华 ,  明文全 ,  陈志逵

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种能够直接利用晶体校正波函数重构中残余像差的方法。该方法基于“振幅衬度最小标准”，对像差系数采取“分段降维”的算法。在保证计算精度的前提下，大大减少计算量。目前，在TEM中获取原子像是材料科学领域必不可少的研究手段。原则上，波函数重构所获得的相位像能够反映样品中的投影势场，然而由于残余像差的影响，这一点往往难以实现。而本发明解决了在晶体中校正残余像差的难题。相较于非晶法，该方法可直接在晶体区域使用，采集数据时不必保证图像中一定含有非晶，这给实验工作带来了极大的便利。相较于先前的晶体法来说，该方法能够校正更高阶以及数值更大的像差。本发明在材料科学领域中有着更广泛的应用前景。

公开(公告)号：CN114624006B

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202210207671.X

申请日：2022-03-03

Applicant: 湖南大学

Inventor： 陈江华 ,  明文全 ,  陈志逵

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种能够直接利用晶体校正波函数重构中残余像差的方法。该方法基于“振幅衬度最小标准”，对像差系数采取“分段降维”的算法。在保证计算精度的前提下，大大减少计算量。目前，在TEM中获取原子像是材料科学领域必不可少的研究手段。原则上，波函数重构所获得的相位像能够反映样品中的投影势场，然而由于残余像差的影响，这一点往往难以实现。而本发明解决了在晶体中校正残余像差的难题。相较于非晶法，该方法可直接在晶体区域使用，采集数据时不必保证图像中一定含有非晶，这给实验工作带来了极大的便利。相较于先前的晶体法来说，该方法能够校正更高阶以及数值更大的像差。本发明在材料科学领域中有着更广泛的应用前景。