一种连接器测试探针模组

    公开(公告)号:CN112327019A

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN202011070852.X

    申请日:2020-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种连接器测试探针模组,包括:一载体,所述载体内设置有内腔;一弹片,所述弹片包含:一弹性部,所述弹性部位于所述内腔中;一头部,所述头部与所述弹性部的一端连接,并且头部伸出所述载体;一尾部,所述尾部与所述弹性部的另一端连接,并且尾部伸出所述载体。该连接器测试探针模组,解决了现有测试模组存在测试不稳定以及电阻大的问题。

    一种密集测点用测试探针治具及其制备方法

    公开(公告)号:CN112285393A

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN202010932882.0

    申请日:2020-09-08

    Abstract: 本发明公开了一种密集测点用测试探针治具,包括:一绝缘基座;多个导电体,多个所述导电体设置在所述绝缘基座内,并且每个导电体的两端分别从绝缘基座伸出;多个探头,每个所述导电体的两端均设置有一个探头。本发明还公开了一种密集测点用测试探针治具的制备方法,具体按照以下步骤实施:步骤1,在绝缘基座上加工多个通孔;步骤2,在每个通孔中分别布置一个导电体;步骤3,在通孔与通孔内布置的导电体之间滴加密封胶,待密封胶凝固后,即完成封装;步骤4,先将导电体的两端磨平,在每个导电体的两端电镀铜合金或者钯合金等良好导体,形成突出探头的结构,然后两端分别镀上镍层,再在镍层上镀上金层,完成探头加工,得到密集测点用测试探针治具。

    一种多测点用连接器测试探针模组

    公开(公告)号:CN112327223A

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN202011071425.3

    申请日:2020-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种多测点用连接器测试探针模组,包括:一载体,所述载体内设置有内腔;一弹片,所述弹片包含:一弹性部,所述弹性部位于所述内腔中;一头部,所述头部与所述弹性部的一端连接,并且头部伸出所述载体;一尾部,所述尾部与所述弹性部的另一端连接,并且尾部伸出所述载体。该多测点用连接器测试探针模组,解决了现有测试模组存在测试不稳定以及电阻大的问题。

    一种适应大电流的测试探针
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112147381A

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN202010929378.5

    申请日:2020-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种可适应大电流的测试探针,包括:一针管;一弹性伸缩件,所述弹性伸缩件设置在所述针管内;一导电件,所述导电件设置在所述弹性伸缩件内;两针轴,两所述针轴的尾部分别从所述针管的两端卡入,并分别与所述弹性伸缩件的两端接触。该适应大电流的测试探针,解决了现有测试探针存在过大电流时,容易发生损毁的问题。

    一种小间距测试探针模组的制备方法

    公开(公告)号:CN112305278A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011070813.X

    申请日:2020-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种小间距测试探针模组的制备方法,具体按照以下步骤实施:步骤1,设计一基体,并在基体上加工多个通孔,设计两密封板,并在密封板上加工多个过孔;步骤2,在基体的每个通孔中分别放置一个绝缘体,并在绝缘体内加工安装孔;步骤3,在绝缘板内的安装孔中分别安装一个探针;步骤4,使用两密封板在基体的两侧完成封装,确保探针的两端分别从对应的过孔中伸出。本发明制备方法得到的小间距测试探针模组,解决了目前针对密集小测点测试,由于安装空间较小导致各探针之间的间隙较小,容易出现微短路状况发生,进而影响测试的问题。

    一种小间距测试探针模组
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112305279A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011070834.1

    申请日:2020-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种小间距测试探针模组,包括:一基体,所述基体内设置有多个通孔;多个绝缘体,每个所述通孔内均设置有一个绝缘体,所述绝缘体内设置有用于放置探针的安装孔;两密封板,两所述密封板分别位于所述基体的两侧,并且每个所述密封板内均设置有多个与对应通孔相通的过孔;多个探针,每个所述安装孔中均设置有一个探针,所述探针的两端的针头分别从对应的过孔伸出。该小间距测试探针模组,解决了目前针对密集小测点测试,由于安装空间较小导致各探针之间的间隙较小,容易出现微短路状况发生,进而影响测试的问题。

    一种探针型射频测试连接器

    公开(公告)号:CN111596097A

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN202010395425.2

    申请日:2020-05-12

    Abstract: 本发明公开了一种探针型射频测试连接器,包括:一承载部;一第一探针,所述第一探针设置在所述承载部内;多个第二探针,多个所述第二探针设置在所述承载部内,并且多个第二探针分布在所述第一探针的外围。该探针型射频测试连接器,解决了现有射频测试连接器存在使用寿命短、测试效率低的问题。

    一种导电件式测试探针
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN213957458U

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202021932814.6

    申请日:2020-09-07

    Abstract: 本实用新型公开了一种导电件式测试探针,包括:一针管;一弹性伸缩件,所述弹性伸缩件设置在所述针管内;一导电件,所述导电件设置在所述弹性伸缩件内;两针轴,两所述针轴的尾部分别从所述针管的两端卡入,并分别与所述弹性伸缩件的两端接触。该导电件式测试探针,解决了现有测试探针存在过大电流时,容易发生损毁的问题。

    一种低电阻细长测试探针

    公开(公告)号:CN212872575U

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN202021242601.0

    申请日:2020-06-30

    Abstract: 本实用新型公开了一种低电阻细长测试探针,包括一两端开口的针管,针管内设有一弹簧,弹簧的两端分别设置有长针轴和短针轴,长针轴与短针轴和弹簧的接触面均为锥面。本实用新型低电阻细长测试探针,利用针管与弹簧间隙增大,长针轴、短针轴与弹簧接触面均设计为锥面,当长针轴下压时,弹簧受到压缩力的反作用力迫使长针轴和短针轴的锥面与弹簧紧密接触,弹簧受力扭曲变形,做S形曲线,带动长针轴和短针轴与针管管壁摩擦,减小电阻,解决细长探针电阻大的问题。

    一种射频测试连接器用承载架

    公开(公告)号:CN212722958U

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN202020772799.7

    申请日:2020-05-12

    Abstract: 本实用新型公开了一种射频测试连接器用承载架,包括承载部,所述承载部的外部至少设置有一个环形外沿,每个所述环形外沿内设置有多个安装孔,所述承载部内设置有绝缘部,所述环形外沿和所述绝缘部均由塑性材料制成。该射频测试连接器用承载架,以解决现有射频测试连接器存在使用寿命短的问题。

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