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发明公开
一种计算手工超声波横波检测缺陷检出率的方法和设备审中-实审

公开(公告)号：CN116256434A

公开(公告)日：2023-06-13

申请号：CN202310053529.9

申请日：2023-02-03

Applicant: 温州市特种设备检测科学研究院(温州市特种设备应急处置中心)

Inventor： 蔡智会 , 金樟民 , 易际研 , 杨剑波 , 陶肇瑜

IPC: G01N29/44

Abstract: 本发明公开了一种计算手工超声波横波检测缺陷检出率的方法和设备，方法包括以下步骤：S1:预制含缺陷试板,对含缺陷试板进行射线检测，检测出缺陷信息；S2:根据执行的检测标准，绘制波幅距离校正曲线，并计算阈值当量；S3:手工横波检测探头进行扫查，记录缺陷的阈值达到阈值当量50％以上的缺陷信息；S4:结合步骤S1和步骤S3的检测结果，通过logistic回归分析来计算模型参数α0和α1；S5:对于阈值达到阈值当量50％以上的缺陷，进行打磨或者高度测量，获得缺陷高度信息，通过线性回归分析计算模型参数β0、β1、σ0；S6:最后根据获得的模型参数，计算获得缺陷检出率。该计算方法更加准确可靠，利于薄板的超声波横波检测缺陷检出率(POD)评估。

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