一种光谱仪的设计方法以及光谱仪

    公开(公告)号:CN104296868A

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201410545740.3

    申请日:2014-10-15

    CPC classification number: G01J3/18 G01J3/28 G01J2003/1842

    Abstract: 本发明公开了一种光谱仪的设计方法以及光谱仪,使用凹面光栅、三个入射狭缝和三个光探测器搭建光谱仪,包括以下步骤:1)确定第二入射狭缝的入射角以及凹面光栅的槽型周期;2)估算凹面光栅的闪耀角,确定凹面光栅的表面材料和槽型结构;3)获取入射角度为θA2时和多个角度下凹面光栅的波长-衍射效率曲线;4)确定入射角θAl和θA3的值以及波长λ2和λ3的值,并取λ4等于λ2;5)得到记录结构参数以及使用结构参数;6)确定凹面光栅的制作参数;7)确定三个入射狭缝和三个光探测器相对于所述凹面光栅的位置,从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪,在大部分光谱区域内具有较高的衍射效率,有效解决宽光谱区域内衍射效率较低的问题。

    一种全息光栅的曝光方法及曝光光路

    公开(公告)号:CN103792606B

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201410038074.4

    申请日:2014-01-26

    Abstract: 本发明公开了一种全息光栅的曝光方法及曝光光路,曝光方法包括调节两个曝光光源的位置,形成曝光光路的步骤:(1)确定两个曝光光源的初始位置;(2)计算仿真的初始光路工作后形成光栅的成像质量参数;(3)在初始光路中设置补偿镜;(4)根据补偿镜的位置调节曝光光源的位置至新位置;(5)计算仿真的新光路工作后形成光栅的成像质量参数;(6)判断步骤(5)的成像质量参数与步骤(2)的成像质量参数的差值是否相当。在是相当的条件下,将新位置作为曝光光源的最终位置;将新位置下对应的新光路作为最终的曝光光路。本发明的曝光方法及曝光光路,可在不影响光栅制作要求和成像要求的前提下有效地解决曝光光源之间的距离过近的问题。

    一种凹面光栅光谱仪
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104048757B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201410284375.5

    申请日:2014-06-23

    Abstract: 本发明公开一种凹面光栅光谱仪,包括入射狭缝、凹面光栅、遮光板、反射镜和光探测器,光探测器直接接收光谱中的短波段,反射镜将光谱中的长波段反射到光探测器上,使得短波段与长波段复用一个光探测器,并且,光探测器和反射镜的位置满足入射到光探测器上的短波段和长波段在检测时不相互干扰的条件;遮光板可活动地设于凹面光栅与光探测器之间的光路上,当需要检测短波段光波时,遮光板切换至第一位置,以使短波段入射到光探测器,同时阻碍长波段入射到光探测器;当需要检测长波段光波时,遮光板切换至第二位置,以使长波段入射到光探测器,同时阻碍短波段入射到光探测器。本发明的光谱仪能够在保持原体积基本不变的前提下大大提高光谱分辨率。

    一种高分辨率光谱仪的设计方法以及光谱仪

    公开(公告)号:CN104316182A

    公开(公告)日:2015-01-28

    申请号:CN201410626161.1

    申请日:2014-11-07

    CPC classification number: G01J3/28

    Abstract: 本发明公开了一种高分辨率光谱仪的设计方法以及光谱仪,使用凹面光栅、两个入射狭缝和一个光探测器搭建光谱仪,包括以下步骤:1)确定波长λ2和λ3的值,将整个光谱检测范围划分为两个波段范围;2)根据两个波段范围复用一个光探测器的原则,由两个入射狭缝的入射角满足的光栅方程确定两个入射角之间的关系式;3)确定得到记录结构参数和使用结构参数;4)根据所述记录结构参数确定所述凹面光栅的制作参数,得到满足应用的凹面光栅;5)根据所述使用结构参数初值确定两个入射狭缝和一个光探测器相对于所述凹面光栅的位置,从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪,能提高大部分光谱区域内的分辨率。

    一种双入射狭缝光谱仪的设计方法以及双入射狭缝光谱仪

    公开(公告)号:CN104296871A

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201410568432.2

    申请日:2014-10-22

    CPC classification number: G01J3/28

    Abstract: 本发明公开了一种双入射狭缝光谱仪的设计方法以及双入射狭缝光谱仪,使用凹面光栅、两个入射狭缝和两个光探测器搭建光谱仪,包括以下步骤:1)确定第一入射狭缝的入射角以及凹面光栅的槽型周期;2)估算凹面光栅的闪耀角,确定凹面光栅的表面材料和槽型结构;3)估算入射角范围;获取入射角度为θA1时和分布在入射角范围内的多个角度下凹面光栅的波长-衍射效率曲线;4)确定入射角θA2的值以及波长λ2和λ3的值;5)得到记录结构参数以及使用结构参数;6)确定凹面光栅的制作参数;7)确定两个入射狭缝和两个光探测器相对于凹面光栅的位置,从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪,能提高大部分光谱区域内的衍射效率。

    一种光谱仪的设计方法以及光谱仪

    公开(公告)号:CN104296868B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201410545740.3

    申请日:2014-10-15

    CPC classification number: G01J3/18 G01J3/28 G01J2003/1842

    Abstract: 本发明公开了一种光谱仪的设计方法以及光谱仪,使用凹面光栅、三个入射狭缝和三个光探测器搭建光谱仪,包括以下步骤:1)确定第二入射狭缝的入射角以及凹面光栅的槽型周期;2)估算凹面光栅的闪耀角,确定凹面光栅的表面材料和槽型结构;3)获取入射角度为θA2时和多个角度下凹面光栅的波长-衍射效率曲线;4)确定入射角θAl和θA3的值以及波长λ2和λ3的值,并取λ4等于λ2;5)得到记录结构参数以及使用结构参数;6)确定凹面光栅的制作参数;7)确定三个入射狭缝和三个光探测器相对于所述凹面光栅的位置,从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪,在大部分光谱区域内具有较高的衍射效率,有效解决宽光谱区域内衍射效率较低的问题。

    一种高分辨率光谱仪的设计方法以及光谱仪

    公开(公告)号:CN104316182B

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201410626161.1

    申请日:2014-11-07

    CPC classification number: G01J3/28

    Abstract: 本发明公开了一种高分辨率光谱仪的设计方法以及光谱仪,使用凹面光栅、两个入射狭缝和一个光探测器搭建光谱仪,包括以下步骤:1)确定波长λ2和λ3的值,将整个光谱检测范围划分为两个波段范围;2)根据两个波段范围复用一个光探测器的原则,由两个入射狭缝的入射角满足的光栅方程确定两个入射角之间的关系式;3)确定得到记录结构参数和使用结构参数;4)根据所述记录结构参数确定所述凹面光栅的制作参数,得到满足应用的凹面光栅;5)根据所述使用结构参数初值确定两个入射狭缝和一个光探测器相对于所述凹面光栅的位置,从而搭建得到光谱仪。本发明的设计方法得到的光谱仪,能提高大部分光谱区域内的分辨率。

    一种凹面光栅光谱仪
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104048757A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201410284375.5

    申请日:2014-06-23

    Abstract: 本发明公开一种凹面光栅光谱仪,包括入射狭缝、凹面光栅、遮光板、反射镜和光探测器,光探测器直接接收光谱中的短波段,反射镜将光谱中的长波段反射到光探测器上,使得短波段与长波段复用一个光探测器,并且,光探测器和反射镜的位置满足入射到光探测器上的短波段和长波段在检测时不相互干扰的条件;遮光板可活动地设于凹面光栅与光探测器之间的光路上,当需要检测短波段光波时,遮光板切换至第一位置,以使短波段入射到光探测器,同时阻碍长波段入射到光探测器;当需要检测长波段光波时,遮光板切换至第二位置,以使长波段入射到光探测器,同时阻碍短波段入射到光探测器。本发明的光谱仪能够在保持原体积基本不变的前提下大大提高光谱分辨率。

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