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公开(公告)号:CN119849650A
公开(公告)日:2025-04-18
申请号:CN202411998642.5
申请日:2024-12-31
Applicant: 深圳量旋科技有限公司 , 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)
IPC: G06N10/20
Abstract: 本申请公开了一种量子操作门性能评估方法、装置及电子设备和存储介质,该方法包括:构建纯度随机基准测试序列,将纯度随机基准测试序列的量子比特初始化在|0>态,基于纯度随机基准测试序列确定纯度的第一衰减曲线,以确定第一幺正度;在纯度随机基准测试序列中的相邻Clifford门之间插入延时得到插入延时的纯度随机基准测试序列;将插入延时的纯度随机基准测试序列的量子比特初始化在|0>态,基于插入延时的纯度随机基准测试序列确定纯度的第二衰减曲线,以确定第二幺正度;基于第一幺正度和第二幺正度确定非相干误差,对量子操作门进行性能评估。本申请提高了量子操作门性能评估的准确度、量子比特环境噪声的评估准确度。
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公开(公告)号:CN118350476A
公开(公告)日:2024-07-16
申请号:CN202410745540.6
申请日:2024-06-11
Applicant: 深圳量旋科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种随机基准测试用控制脉冲信号的生成方法及量子测控系统。所述方法包括:接收上位机传送过来随机基准测试所需的门脉冲控制信息;根据门脉冲控制信息指示的随机基准测试所需的量子门组合中包含的各量子门的类型、排列顺序以及对应的波形参数信息,生成量子门组合对应的控制脉冲信号数据;对控制脉冲信号数据进行数模转换,生成对应的模拟信号并输出,以实现对量子比特的随机基准测试。本发明缩短了随机基准测试的实验时长,更快速地实现随机基准测试所需的量子门的控制脉冲信号,以达到对量子比特随机基准测试的加速控制功能,提高了随机基准测试的效率,同时降低了对上位机和量子测控系统硬件性能的要求。
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公开(公告)号:CN115409188B
公开(公告)日:2025-05-06
申请号:CN202210957449.1
申请日:2022-08-10
Applicant: 深圳量旋科技有限公司
IPC: G06N10/20
Abstract: 本申请实施例属于量子云计算领域,涉及一种量子云平台量子设备监控方法,包括获取量子云平台中量子设备的运行参数、设备参数及服务类型;当服务类型为共享服务类型时,获取量子平台中量子设备的负载状态;或,当服务类型为专享服务类型时,通过预测模型预测量子设备中负载状态为预设状态的实验时刻后,当到达实验时刻时,获取量子设备的负载状态;当量子设备的负载状态为预设状态时,根据设备参数确定目标监测实验,并根据运行参数和目标监测实验对量子设备进行监测分析,得到监测分析结果。本申请还提供一种量子云平台量子设备监控的相关设备。本申请有效提升监测效率及监测准确性,使运维人员可准确、及时了解量子设备的状态。
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公开(公告)号:CN115409188A
公开(公告)日:2022-11-29
申请号:CN202210957449.1
申请日:2022-08-10
Applicant: 深圳量旋科技有限公司
IPC: G06N10/20
Abstract: 本申请实施例属于量子云计算领域,涉及一种量子云平台量子设备监控方法,包括获取量子云平台中量子设备的运行参数、设备参数及服务类型;当服务类型为共享服务类型时,获取量子平台中量子设备的负载状态;或,当服务类型为专享服务类型时,通过预测模型预测量子设备中负载状态为预设状态的实验时刻后,当到达实验时刻时,获取量子设备的负载状态;当量子设备的负载状态为预设状态时,根据设备参数确定目标监测实验,并根据运行参数和目标监测实验对量子设备进行监测分析,得到监测分析结果。本申请还提供一种量子云平台量子设备监控的相关设备。本申请有效提升监测效率及监测准确性,使运维人员可准确、及时了解量子设备的状态。
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公开(公告)号:CN118350476B
公开(公告)日:2025-01-14
申请号:CN202410745540.6
申请日:2024-06-11
Applicant: 深圳量旋科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种随机基准测试用控制脉冲信号的生成方法及量子测控系统。所述方法包括:接收上位机传送过来随机基准测试所需的门脉冲控制信息;根据门脉冲控制信息指示的随机基准测试所需的量子门组合中包含的各量子门的类型、排列顺序以及对应的波形参数信息,生成量子门组合对应的控制脉冲信号数据;对控制脉冲信号数据进行数模转换,生成对应的模拟信号并输出,以实现对量子比特的随机基准测试。本发明缩短了随机基准测试的实验时长,更快速地实现随机基准测试所需的量子门的控制脉冲信号,以达到对量子比特随机基准测试的加速控制功能,提高了随机基准测试的效率,同时降低了对上位机和量子测控系统硬件性能的要求。
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