公开(公告)号：CN117572484A

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202311522088.9

申请日：2023-11-15

Applicant: 海南大学

Inventor： 刘谦 ,  李文检

IPC: G01T1/36 ,  G01N23/046 ,  G06T7/00 ,  G06T7/60 ,  G06T11/00 ,  G06F17/11 ,  G06F17/16 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明涉及X射线CT成像技术领域，尤其涉及一种X射线能谱估计方法。包括：S1.获取不同厚度的均匀材料模体测量数据，构建X射线穿过不同厚度模体的线性方程组；S2.使用高斯函数和狄拉克（Delta）函数对X射线能谱进行表示；S3.使用多种材料组合优化系数矩阵的条件数；S4.基于先验估计构建目标函数及约束条件；S5.将先验估计#imgabs0#作为迭代初始值，使用梯度下降法对目标函数优化求解，以获得估计能谱，所述估计能谱用于对成像条件下的X射线进行能谱估计。优点在于：在考虑探测器响应函数的情况下，使用少量参数对X射线能谱进行表示以减少欠定性；多种材料组合优化系数矩阵的条件数，减少病态性；增强了解的稳定性。