面向纹理的均匀FAST特征提取方法、装置、介质及设备

    公开(公告)号:CN118053000B

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202410067705.9

    申请日:2024-01-17

    Applicant: 海南大学

    Abstract: 本发明实施例公开了一种面向纹理的均匀FAST特征提取方法,所述方法包括:构建面向纹理的均匀特征提取器;对待提取特征的图片通过面向纹理的均匀FAST特征提取器获得待提取特征图片的纹理直方图;确定所述待提取特征图片的纹理直方图待提取特征图片的对比度和信息熵;根据所述对比度和信息熵预设基础阈值;根据所述基础阈值、对比度权重和信息熵权重确定优化阈值;通过所述优化阈值提取待提取特征的图片的特征点并且确定特征点密度分布图;根据密度和特征点的数量动态地调整四叉树的划分并且优化特征点的分布结构。

    面向纹理的均匀FAST特征提取方法、装置、介质及设备

    公开(公告)号:CN118053000A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202410067705.9

    申请日:2024-01-17

    Applicant: 海南大学

    Abstract: 本发明实施例公开了一种面向纹理的均匀FAST特征提取方法,所述方法包括:构建面向纹理的均匀特征提取器;对待提取特征的图片通过面向纹理的均匀FAST特征提取器获得待提取特征图片的纹理直方图;确定所述待提取特征图片的纹理直方图待提取特征图片的对比度和信息熵;根据所述对比度和信息熵预设基础阈值;根据所述基础阈值、对比度权重和信息熵权重确定优化阈值;通过所述优化阈值提取待提取特征的图片的特征点并且确定特征点密度分布图;根据密度和特征点的数量动态地调整四叉树的划分并且优化特征点的分布结构。

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