公开(公告)号：CN115372791A

公开(公告)日：2022-11-22

申请号：CN202210939581.X

申请日：2022-08-05

Applicant: 海光信息技术股份有限公司

Inventor： 冉亮 ,  李雪营 ,  陈元

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请的实施例公开了基于硬件仿真的集成电路的测试方法、装置及电子设备，涉及集成电路技术领域，为能够有效提高基于硬件仿真的集成电路的测试速度而发明。所述方法应用于测试平台，所述测试方法包括：接收所述集成电路发送的测试请求；根据所述测试请求及预设测试策略，生成测试激励；将所述测试激励直接向所述集成电路发送。本申请适用于测试集成电路。

公开(公告)号：CN114090355A

公开(公告)日：2022-02-25

申请号：CN202111362448.4

申请日：2021-11-17

Applicant: 海光信息技术股份有限公司

Inventor： 冉亮 ,  潘杰

IPC: G06F11/22

Abstract: 本公开提供一种硅后测试的方法、系统、设备以及存储介质，该方法包括：根据待测的芯片，获取随机配置信息；根据随机配置信息获取测试指令流；根据测试指令流获取指令级别随机的测试用例；在芯片上运行指令级别随机的测试用例以验证芯片。本公开的硅后测试方法通过生成和运行指令级别随机的测试用例，使得硅后也能通过大规模的回归测试来撞到尽可能多的场景，从而能够测试到更多场景，测试更加完备，测试的成本较低，能够在芯片推向市场前发现到芯片的缺陷。