公开(公告)号：CN109597731A

公开(公告)日：2019-04-09

申请号：CN201811506223.X

申请日：2018-12-10

Applicant: 浪潮(北京)电子信息产业有限公司

Inventor： 王兴隆 ,  宿燕鸣

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/26

Abstract: 本发明公开了一种处理器的状态测试方法，包括控制处理器将预设的检测数据写入存储设备；控制处理器读取写入存储设备的检测数据；判断读取的检测数据与预设的检测数据是否相同；若是，则处理器的写功能与读功能正常；否则处理器的写功能和/或读功能异常。本发明能够确定出处理器的写功能与读功能是否正常，此种情况下，在确定出处理器写功能和/或读功能异常后，工作人员便可以及时地对处理器进行维修或更换，提高了故障处理速度，提高了与处理器相关工作的工作效率。

公开(公告)号：CN109614280A

公开(公告)日：2019-04-12

申请号：CN201811504674.X

申请日：2018-12-10

Applicant: 浪潮(北京)电子信息产业有限公司

Inventor： 王兴隆 ,  宿燕鸣

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明公开了一种存储设备的状态测试方法，包括将预设的检测数据存入存储设备；读取存入存储设备的检测数据；判断读取的检测数据与预设的检测数据是否相同；若是，则存储设备正常；若否，则存储设备故障。本发明中，能够首先将预设的检测数据存入存储设备，然后读取存入存储设备的检测数据，并判断读取的检测数据与预设的检测数据是否相同，如果相同则可证明存储设备正常，否则代表存储设备故障，本发明提供的状态测试方法使得用户可以主动测试存储设备是否故障，可以及时地对故障的存储设备进行维修或更换，以防存储设备长时间的故障造成数据丢失，提高了数据的安全性。