公开(公告)号：CN100480650C

公开(公告)日：2009-04-22

申请号：CN02811479.5

申请日：2002-08-13

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01J3/36

CPC classification number: G01N21/255 ,  G01J3/26 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513

Abstract: 从光源(3)中发出的光线L传输通过样品单元(S)并且射入分光部分(13)。所述分光部分(13)包括传输不同波长的光组份的干涉滤光器(31-39)，以及相应于各自的干涉滤光器的光电二极管(41-49)。组成一个干涉滤光器的非传导性薄膜具有相对令人满意的特性来反射非被传输的波长的光组份的那些光组份。在每个干涉滤光器中，一入射光被分成一传输光组份和一反射光组份。通过把反射光变成入射光射入下一级的干涉滤波器中，就可以探测具有九种波长类型的光组份。

公开(公告)号：CN100476400C

公开(公告)日：2009-04-08

申请号：CN200480005395.9

申请日：2004-02-26

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01N21/78 ,  G01N21/474 ,  G01N21/8483 ,  G01N2021/473 ,  G01N2021/8488 ,  G01N2021/8609

Abstract: 照射光学系统具有半导体发光元件(23)、光束整形部件(25)以及透镜(27)。半导体发光元件(23)射出的光，是从半导体发光元件(23)侧依次通过第七孔部(63)、第八孔部(64)、狭缝(25a)、筒状部件(71)的第二筒部分(73)、第一筒部分(72)、透镜(27)、第二孔部(53)、以及第一孔部(52)，而成为与形成在免疫层析试验片(1)上的显色线大致平行的狭缝光，其是从大致垂直于免疫层析试验片(1)的方向照射到免疫层析试验片(1)上。检测光学系统具有半导体受光元件(33)。半导体受光元件(33)被设置在与显色线(CL)大致平行的方向的斜上方，该显色线是从免疫层析试验片(1)上的测定光的照射位置而形成在免疫层析试验片(1)上，因而能够检测出朝向大致与显色线为平行的方向的斜上方的反射光。

公开(公告)号：CN1714289A

公开(公告)日：2005-12-28

申请号：CN200380103609.1

申请日：2003-10-30

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N21/78 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2021/7759 ,  G01N2021/7773 ,  G01N2201/022 ,  G01N2201/0627 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/101

Abstract: 扫描机构6使光学磁头5相对于载装盘2在扫描方向上移动；装载在光学磁头5上的发光二极管3A、3B，向装载在载装盘2的免疫色谱测试片的2个显色区域TP3、TP3，沿着各自的扫描方向照射测定光；通过装载在光学磁头5上的光电二极管4A、4B，接收与免疫测试片的显色线相互垂直、从2个显色区域TP3、TP3反射的反射光，同时测定免疫色谱测试片的2个显色区域TP3、TP3上形成的显色线的显色度。

公开(公告)号：CN100507528C

公开(公告)日：2009-07-01

申请号：CN200380103609.1

申请日：2003-10-30

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N21/78 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2021/7759 ,  G01N2021/7773 ,  G01N2201/022 ,  G01N2201/0627 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/101

Abstract: 扫描机构(6)使光学磁头(5)相对于载装盘(2)在扫描方向上移动；装载在光学磁头(5)上的发光二极管(3A、3B)，向装载在载装盘(2)的免疫色谱测试片的2个显色区域(TP3、TP3)，沿着各自的扫描方向照射测定光；通过装载在光学磁头(5)上的光电二极管(4A、4B)，接收与免疫测试片的显色线相互垂直、从2个显色区域(TP3、TP3)反射的反射光，同时测定免疫色谱测试片的2个显色区域(TP3、TP3)上形成的显色线的显色度。

公开(公告)号：CN1754093A

公开(公告)日：2006-03-29

申请号：CN200480005396.3

申请日：2004-02-26

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01N30/90 ,  G01N21/474 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/0813

Abstract: 本发明提供一种免疫层析试验片(5a)的测定装置，向免疫层析试验片(5a)照射测定光、而测定来自免疫层析试验片(5a)的光，其包括：接收来自免疫层析试验片(5a)的光的光电二极管(3a)，以及具有设置在免疫层析试验片(5a)和光电二极管(3a)之间的、用于将来自免疫层析试验片(5a)的光的一部分导入到光电二极管(3a)上的多条光通路(3b、3b、3b、3b)的测定头(4)。测定头(4)作为将由免疫层析试验片(5a)反射的不需要的光进行遮光的遮光部件而工作。多条光通路(3b、3b、3b、3b)沿着形成在免疫层析试验片(5a)上的线状的显色部(8)的延伸方向而并列设置。

公开(公告)号：CN101583873B

公开(公告)日：2013-06-12

申请号：CN200780049213.1

申请日：2007-12-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N33/543 ,  G01N21/64 ,  G01N21/78

CPC classification number: G01N21/274 ,  G01N21/8483

Abstract: 本发明涉及一种免疫色谱试验片的测定方法，其特征在于：在将被检测体滴落到免疫色谱试验片41上后，在向免疫色谱试验片41上的第1位置(带状区域41c)照射测定光的同时检测反射光以检测第1位置上的吸光度的变化，并且在向免疫色谱试验片41上位于第1位置的下游侧的第2位置(带状区域41d)照射测定光的同时检测反射光以检测第2位置上的吸光度的变化，根据从第1位置上的吸光度发生变化起至第2位置上的吸光度发生变化为止的经过时间来补正呈色度。

公开(公告)号：CN1756940A

公开(公告)日：2006-04-05

申请号：CN200480005497.0

申请日：2004-02-26

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德 ,  杉山浩之

IPC: G01J3/36 ,  G02B5/28

CPC classification number: G01N21/31 ,  G01J3/021 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G01J2003/1221 ,  G01J2003/1226 ,  G01J2003/123 ,  G01J2003/1239 ,  G01N21/255 ,  G01N21/892 ,  G01N21/896 ,  G01N21/90 ,  G01N2021/3137 ,  G01N2021/3166 ,  G01N2021/3177

Abstract: 在本发明的分光装置中，依次配置透过波段不同的多个干涉滤光片(31、32……)使得由特定的干涉滤光片(31)反射后的光向次级的干涉滤光片(32)入射，并将光检测元件(41、42……)设置在透过各自的干涉滤光片后的光入射的位置上。其中，在该分光装置的初级的干涉滤光片(31)的光入射面一侧，设置厚度20～200nm的银薄膜(31a)。

公开(公告)号：CN1754092A

公开(公告)日：2006-03-29

申请号：CN200480005395.9

申请日：2004-02-26

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01N21/78 ,  G01N21/474 ,  G01N21/8483 ,  G01N2021/473 ,  G01N2021/8488 ,  G01N2021/8609

Abstract: 照射光学系统具有半导体发光元件(23)、光束整形部件(25)以及透镜(27)。半导体发光元件(23)射出的光，是从半导体发光元件(23)侧依次通过第七孔部(63)、第八孔部(64)、狭缝(25a)、筒状部件(71)的第二筒部分(73)、第一筒部分(72)、透镜(27)、第二孔部(53)、以及第一孔部(52)，而成为与形成在免疫层析试验片(1)上的显色线大致平行的狭缝光，其是从大致垂直于免疫层析试验片(1)的方向照射到免疫层析试验片(1)上。检测光学系统具有半导体受光元件(33)。半导体受光元件(33)被设置在与显色线(CL)大致平行的方向的斜上方，该显色线是从免疫层析试验片(1)上的测定光的照射位置而形成在免疫层析试验片(1)上，因而能够检测出朝向大致与显色线为平行的方向的斜上方的反射光。

公开(公告)号：CN101583873A

公开(公告)日：2009-11-18

申请号：CN200780049213.1

申请日：2007-12-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N33/543 ,  G01N21/64 ,  G01N21/78

CPC classification number: G01N21/274 ,  G01N21/8483

Abstract: 本发明涉及一种免疫色谱试验片的测定方法，其特征在于：在将被检测体滴落到免疫色谱试验片41上后，在向免疫色谱试验片41上的第1位置(带状区域41c)照射测定光的同时检测反射光以检测第1位置上的吸光度的变化，并且在向免疫色谱试验片41上位于第1位置的下游侧的第2位置(带状区域41d)照射测定光的同时检测反射光以检测第2位置上的吸光度的变化，根据从第1位置上的吸光度发生变化起至第2位置上的吸光度发生变化为止的经过时间来补正呈色度。

公开(公告)号：CN101578519A

公开(公告)日：2009-11-11

申请号：CN200780049127.0

申请日：2007-12-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山内一德

IPC: G01N33/543 ,  G01N21/64 ,  G01N21/78

CPC classification number: G01N21/8483

Abstract: 本发明涉及一种测定装置(1a)，其具备：发光元件(21、31)，向免疫色谱试验片(41)照射测定光；光检测元件(22)，检测通过向免疫色谱试验片(41)上的第1位置(带状区域(41c))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光；光检测元件(32)，检测通过向较第1位置位于下游侧的第2位置(带状区域(41d))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光；控制部(13)，根据来自光检测元件(22、32)的输出信号，取得从第1位置(带状区域(41c))上的吸光度发生变化起至第2位置(带状区域(41d))上的吸光度发生变化为止的时间。