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公开(公告)号：CN116086626A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202310137460.8
申请日：2023-02-20
Applicant: 浙江省计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种面辐射源发射率测试方法。本发明从辐射测温的基本理论着手，通过对普朗克黑体辐射定律公式的推导，得到了面辐射源发射率的理论计算公式和一种新的测试方法，采用工作波段分别为（8~14）μm和3.9μm的两台标准辐射温度计，对理论计算公式和测试方法进行了实验验证。利用本发明方法测试得到的面辐射源发射率值为0.947~0.968，基本符合生产厂家声称的发射率（0.96±0.01）的技术要求。
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