气相涂布装置和气相涂布方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119121182A

    公开(公告)日:2024-12-13

    申请号:CN202411041831.3

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 本申请涉及气相涂布装置和气相涂布方法。该气相涂布装置包括:真空室,真空室包括承托盘和密封盖,承托盘具有承托面、凹陷于承托面的盛料腔以及连通于盛料腔并绕过承托面而连通到承托面上侧的气道,密封盖密封地连接于承托盘,密封盖与承托盘限定涂布腔,涂布腔通过气道连通于盛料腔,涂布腔覆盖承托面;真空腔阻隔器,连通于真空室,真空腔阻隔器具有导通状态和封闭状态;以及外接通道,通过真空腔阻隔器连通于真空室。该气相涂布装置能够适用于实验级别半导体制造。

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