公开(公告)号：CN119440992A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202411528780.7

申请日：2024-10-30

Applicant: 浙江大学 ,  中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 智晨 ,  胡泽昊 ,  艾晶 ,  杨攀飞 ,  刘维 ,  尹建伟

IPC: G06F11/36 ,  G06F11/34 ,  G06F18/241 ,  G06F8/41

Abstract: 本发明公开了一种基于大语言模型的高质量微基准性能测试自动生成方法及装置，该方法包括：对目标项目进行解析，构建系统依赖图；利用系统依赖图分析目标方法的调用链路，指导大语言模型根据调用链中的源代码进行性能分类；将性能分类结果与预定义的JMH参数模板进行匹配；整合目标方法的上下文信息与参数模板，有效指导大语言模型生成高质量的微基准性能测试用例；解析成功生成的微基准性能测试代码，利用不良实践规则库对代码中的不良实践进行检测，并对不良实践代码进行修复，最终生成高效且准确的测试用例。本发明在测试生成正确率和性能缺陷检测能力等方面均优于传统方法，生成的测试用例在可理解性和性能测量的准确性上有显著优势。