一种唯相位低副瓣综合方法、装置、计算介质和电子设备

    公开(公告)号:CN117648823A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311697955.2

    申请日:2023-12-11

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明提供一种唯相位低副瓣综合方法、装置、计算介质和电子设备,适用于平面天线阵列大角度扫描,所述方法至少包括如下步骤:步骤S1,根据平面天线阵列和期望扫描角度初始化激励相位,并寻找初始化激励相位对应的副瓣区域;步骤S2,构建相位微扰的迭代模型,并得到迭代次数对应的激励相位及其对应方向图的副瓣区域;步骤S3,重复步骤S2直至满足设定要求时得到优化后的激励相位,根据优化后的激励相位计算出方向图。本申请能够最大化阵面的输入功率,增大等效全向辐射功率,高效率地实现了副瓣抑制的波束扫描功能。

Patent Agency Ranking