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公开(公告)号:CN102033052A
公开(公告)日:2011-04-27
申请号:CN201010503862.8
申请日:2010-10-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明涉及一种相位型表面等离子共振传感器。传统的相位型表面等离子共振传感器采用压电陶瓷位移平台来调节相位,其价格昂贵,且相位调制的重复性不好,导致传感精度受限。本发明包括激光器、起偏器、第一分束器、第二分束器、第一检偏器、第二检偏器、第一探测器、第二探测器、表面等离子共振棱镜、样品池和金属调制器。金属调制器中的第一金属反射片与第二金属反射片正交设置在固定架上,固定架与旋转平台连接,高反镜所在的平面与入射到金属调制器的光束垂直。进入金属调制器的光束经第一金属反射片、第二金属反射片反射后到达高反镜。高反镜反射光经第二金属反射片、第一金属反射片后原路返同。本发明可以高精度,准确地检测样品折射率。
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公开(公告)号:CN102033052B
公开(公告)日:2012-06-27
申请号:CN201010503862.8
申请日:2010-10-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明涉及一种相位型表面等离子共振传感器。传统的相位型表面等离子共振传感器采用压电陶瓷位移平台来调节相位,其价格昂贵,且相位调制的重复性不好,导致传感精度受限。本发明包括激光器、起偏器、第一分束器、第二分束器、第一检偏器、第二检偏器、第一探测器、第二探测器、表面等离子共振棱镜、样品池和金属调制器。金属调制器中的第一金属反射片与第二金属反射片正交设置在固定架上,固定架与旋转平台连接,高反镜所在的平面与入射到金属调制器的光束垂直。进入金属调制器的光束经第一金属反射片、第二金属反射片反射后到达高反镜。高反镜反射光经第二金属反射片、第一金属反射片后原路返同。本发明可以高精度,准确地检测样品折射率。
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公开(公告)号:CN201837583U
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN201020557495.5
申请日:2010-10-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/49
Abstract: 本实用新型涉及一种相位型表面等离子共振传感器。传统的相位型表面等离子共振传感器采用压电陶瓷位移平台来调节相位,其价格昂贵,且相位调制的重复性不好。本实用新型包括激光器、起偏器、第一分束器、第二分束器、第一检偏器、第二检偏器、第一探测器、第二探测器、表面等离子共振棱镜、样品池和金属调制器。金属调制器中的第一金属反射片与第二金属反射片正交设置在固定架上,固定架与旋转平台连接,高反镜所在的平面与入射到金属调制器的光束垂直。进入金属调制器的光束经第一金属反射片、第二金属反射片反射后到达高反镜。高反镜反射光经第二金属反射片、第一金属反射片后原路返回。本实用新型可以高精度,准确地检测样品折射率。
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