双元原子力显微镜检测头

    公开(公告)号:CN1445525A

    公开(公告)日:2003-10-01

    申请号:CN03116770.5

    申请日:2003-04-29

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01Q20/02 G01Q70/06

    Abstract: 本发明公开了一种双元原子力显微镜检测头。它具有激光器、位置敏感元件(PSD)、半透半反射镜、微悬臂探针和Z向压电陶瓷组成的光电检测与反馈参考单元和测量单元以及由XY压电陶瓷、样品台、参考样品和待测样品组成的扫描控制系统。本发明的双元原子力显微镜检测头可以很好的消除压电陶瓷的非线性和滞后效应带来的扫描误差且不受样品导电性能的影响,最大测量范围达到5μm。使用不同的参考样品,双元原子力显微镜能够实现对任何电导率样品的纳米和亚微米精度的长度计量,可望在众多科技与工业领域得到广泛应用。

    一种局部地基沉陷引起地埋管线变形及内力计算方法

    公开(公告)号:CN110543680A

    公开(公告)日:2019-12-06

    申请号:CN201910704692.0

    申请日:2019-07-31

    Abstract: 本发明公开了一种局部地基沉陷引起地埋管线变形及内力计算方法,包括以下步骤:(1)确定地埋管线物理力学参数及截面几何参数;(2)确定土体物理力学参数;(3)确定局部地基沉陷形状参数;(4)根据经验公式获得由于局部地基沉陷引起的地埋管线附加应力;(5)根据附加应力,计算地埋管线附加变形;(6)根据地埋管线附加变形,采用欧拉伯努利梁理论计算地埋管线弯矩及剪力。本发明首次针对局部地基沉陷情况,提出一种基于非连续土体的地埋管线变形计算公式,可以较好地针对类似工程地埋管线进行设计并对其运营安全进行评估,丰富了地埋管线管-土相互作用方面的研究,补充了地埋管线工程设计相关方面理论。

    一种局部地基沉陷引起地埋管线变形及内力计算方法

    公开(公告)号:CN110543680B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN201910704692.0

    申请日:2019-07-31

    Abstract: 本发明公开了一种局部地基沉陷引起地埋管线变形及内力计算方法,包括以下步骤:(1)确定地埋管线物理力学参数及截面几何参数;(2)确定土体物理力学参数;(3)确定局部地基沉陷形状参数;(4)根据经验公式获得由于局部地基沉陷引起的地埋管线附加应力;(5)根据附加应力,计算地埋管线附加变形;(6)根据地埋管线附加变形,采用欧拉伯努利梁理论计算地埋管线弯矩及剪力。本发明首次针对局部地基沉陷情况,提出一种基于非连续土体的地埋管线变形计算公式,可以较好地针对类似工程地埋管线进行设计并对其运营安全进行评估,丰富了地埋管线管‑土相互作用方面的研究,补充了地埋管线工程设计相关方面理论。

    双元原子力显微镜
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1187597C

    公开(公告)日:2005-02-02

    申请号:CN03116770.5

    申请日:2003-04-29

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01Q20/02 G01Q70/06

    Abstract: 本发明公开了一种双元原子力显微镜。它具有激光器、位置敏感元件(PSD)、半透半反射镜、微悬臂探针和Z向压电陶瓷组成的光电检测与反馈参考单元和测量单元以及由X、Y轴压电陶瓷、样品台、参考样品和待测样品组成的扫描控制系统。本发明的双元原子力显微镜可以很好的消除压电陶瓷的非线性和滞后效应带来的扫描误差且不受样品导电性能的影响,最大测量范围达到5μm。使用不同的参考样品,双元原子力显微镜能够实现对任何电导率样品的纳米和亚微米精度的长度计量,可望在众多科技与工业领域得到广泛应用。

    双元原子力显微镜检测头

    公开(公告)号:CN2617004Y

    公开(公告)日:2004-05-19

    申请号:CN03230939.2

    申请日:2003-04-29

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01Q70/06 G01Q20/02

    Abstract: 本实用新型公开了一种双元原子力显微镜检测头。它具有激光器、位置敏感元件(PSD)、半透半反射镜、微悬臂探针和Z向压电陶瓷组成的光电检测与反馈参考单元和测量单元以及由XY压电陶瓷、样品台、参考样品和待测样品组成的扫描控制系统。本实用新型的双元原子力显微镜检测头可以很好的消除压电陶瓷的非线性和滞后效应带来的扫描误差且不受样品导电性能的影响,最大测量范围达到5μm。使用不同的参考样品,双元原子力显微镜能够实现对任何电导率样品的纳米和亚微米精度的长度计量,可望在众多科技与工业领域得到广泛应用。

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