电光型偏振谱测量显微镜

    公开(公告)号:CN101430272A

    公开(公告)日:2009-05-13

    申请号:CN200810163435.2

    申请日:2008-12-22

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种电光型偏振谱测量显微镜。它基于普通光学显微镜结构,并添加了固定线偏振片、固定电光旋光器以及一系列光学器件组合而成。入射光首先通过固定偏振片,同时使固定线偏振片的透振角度固定不变,然后此线偏振光通过固定电光旋光器,通过对固定电光旋光器施加某一预期强度的电场或磁场,使线偏振光的偏振角度有相应改变,出射线偏振光通过载物台上的待观测样品,透过样品或在样品表面反射后的偏振光通过检偏器,由电荷耦合器件CCD采集光强信息,最终将偏振信息存储并显示出来。由于不同样品对偏振光的作用不同,所以通过待测样品之后的线偏光会呈现出不同的偏振光学特性。通过信息处理技术提取相关偏振谱线,就可以分析待测样品的各种光学特性。

    电光型偏振谱测量显微镜

    公开(公告)号:CN101430272B

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200810163435.2

    申请日:2008-12-22

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种电光型偏振谱测量显微镜。它基于普通光学显微镜结构,并添加了固定线偏振片、固定电光旋光器以及一系列光学器件组合而成。入射光首先通过固定偏振片,同时使固定线偏振片的透振角度固定不变,然后此线偏振光通过固定电光旋光器,通过对固定电光旋光器施加某一预期强度的电场或磁场,使线偏振光的偏振角度有相应改变,出射线偏振光通过载物台上的待观测样品,透过样品或在样品表面反射后的偏振光通过检偏器,由电荷耦合器件CCD采集光强信息,最终将偏振信息存储并显示出来。由于不同样品对偏振光的作用不同,所以通过待测样品之后的线偏光会呈现出不同的偏振光学特性。通过信息处理技术提取相关偏振谱线,就可以分析待测样品的各种光学特性。

Patent Agency Ranking