公开(公告)号：CN110598398B

公开(公告)日：2021-03-19

申请号：CN201910789976.4

申请日：2019-08-26

Applicant: 浙江大学

Inventor： 张帆 ,  杨博麟 ,  徐国瑞 ,  梁子原 ,  张义然 ,  董晓飞

IPC: G06F21/55 ,  G06F21/72

Abstract: 本发明公开了一种基于稳态故障的芯片安全性的评估方法，从芯片实现安全性角度考虑，该方法包括：去除封装、扫描SRAM区域、激光注入稳态故障的方法；根据是否知晓注入故障位置，公开两种分析方法：在已知注入故障位置的条件下通过结合AES第九轮与第十轮状态矩阵，利用GPU特性恢复AES算法密钥的分析方法；在未知注入故障位置的条件下，通过假设与遍历，找到正确故障位置后恢复AES算法密钥的分析方法；参照整个过程提供芯片安全性评估的方法三部分。在芯片安全性评估领域，填补了此前未考虑过稳态故障威胁的空白。

公开(公告)号：CN110598398A

公开(公告)日：2019-12-20

申请号：CN201910789976.4

申请日：2019-08-26

Applicant: 浙江大学

Inventor： 张帆 ,  杨博麟 ,  徐国瑞 ,  梁子原 ,  张义然 ,  董晓飞

IPC: G06F21/55 ,  G06F21/72

Abstract: 本发明公开了一种基于稳态故障的芯片安全性的评估方法，从芯片实现安全性角度考虑，该方法包括：去除封装、扫描SRAM区域、激光注入稳态故障的方法；根据是否知晓注入故障位置，公开两种分析方法：在已知注入故障位置的条件下通过结合AES第九轮与第十轮状态矩阵，利用GPU特性恢复AES算法密钥的分析方法；在未知注入故障位置的条件下，通过假设与遍历，找到正确故障位置后恢复AES算法密钥的分析方法；参照整个过程提供芯片安全性评估的方法三部分。在芯片安全性评估领域，填补了此前未考虑过稳态故障威胁的空白。