公开(公告)号：CN116380308B

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202310468822.1

申请日：2023-04-27

Applicant: 浙江大学

Inventor： 王海阔 ,  唐垚 ,  吴嘉锟 ,  欧阳晓平

IPC: G01L1/24

Abstract: 本发明公开了一种透光材料内应力分布的X射线衍射检测方法，包括：(1)建立透光材料应力检测的坐标位置；(2)对透光材料的初始粉末与标样进行预处理；(3)计算标样放置在透光材料上的坐标位置；(4)合成包含标样的透光材料；光材料在该位置的内应力。本发明基于材料内部某位置内应力与该位置标样受压载荷相同的特点，结合材料的透光性，通过采用X射线衍射法测量标样压力，进而实现透光材料任意位置内应力的检测，具有测量精度高、测量空间位置准确、测量便捷等特点，方便对透光材料内应力的无损检测。(5)利用X射线衍射方法检测标样的压力，作为透

公开(公告)号：CN116380308A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310468822.1

申请日：2023-04-27

Applicant: 浙江大学

Inventor： 王海阔 ,  唐垚 ,  吴嘉锟 ,  欧阳晓平

IPC: G01L1/24

Abstract: 本发明公开了一种透光材料内应力分布的X射线衍射检测方法，包括：(1)建立透光材料应力检测的坐标位置；(2)对透光材料的初始粉末与标样进行预处理；(3)计算标样放置在透光材料上的坐标位置；(4)合成包含标样的透光材料；(5)利用X射线衍射方法检测标样的压力，作为透光材料在该位置的内应力。本发明基于材料内部某位置内应力与该位置标样受压载荷相同的特点，结合材料的透光性，通过采用X射线衍射法测量标样压力，进而实现透光材料任意位置内应力的检测，具有测量精度高、测量空间位置准确、测量便捷等特点，方便对透光材料内应力的无损检测。

公开(公告)号：CN116660312A

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN202310468841.4

申请日：2023-04-27

Applicant: 浙江大学

Inventor： 王海阔 ,  吴嘉锟 ,  唐垚 ,  欧阳晓平

IPC: G01N25/02

Abstract: 本发明公开了一种大尺寸物质高压透光封存方法，包括：(1)建立目标封存物质的封存坐标位置，计算目标封存物质的放置坐标位置；(2)在不同烧结温度下，利用金刚石粉末和标压物质合成包含标压物质的金刚石块体，其中标压物质位于金刚石块体内封存坐标位置；(3)建立烧结温度与金刚石腔体内位于封存坐标位置的压力载荷间关联关系，完成金刚石压腔压力标定；(4)计算目标封存压力所需烧结温度，在该温度下合成包裹目标封存物质的金刚石块体，保证目标封存物位于金刚石块体内的封存坐标位置，实现物质的高压透光封存。本发明实现了透光材料任意位置内应力的检测，测量精度高、测量空间位置准确、测量便捷，方便对透光材料内应力的无损检测。