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公开(公告)号：CN102721833A
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN201210192154.6
申请日：2012-06-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01Q60/24
Abstract: 本发明公开了一种显微监控型可选区原子力显微成像方法及装置。采用将光学显微监控与原子力显微镜（AFM）显微成像相结合以及将AFM扫描器与二维步进微动台相结合的方法，实现AFM扫描区域的显微监控及可选区AFM成像。它具有由激光器、半透半反棱镜、微探针、位置敏感元件、样品、样品台、扫描器、显微物镜、CCD、二维步进微动台等组成的AFM探头，以及由前置放大器、XY扫描与Z反馈控制单元、XYZ高压放大模块、步进控制模块、视频采集模块、计算机及硬件接口等组成的AFM成像与控制系统。本发明的优点是：实现微纳米样品扫描区域的实时监控与选区，可监控光路的调节与对准以及样品与微探针的逼近过程，克服了常规AFM技术在这些方面的随机性、盲目性和局限性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102707093A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201210192166.9
申请日：2012-06-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01Q60/24
Abstract: 本发明公开了一种双管扫描器联动跟踪型原子力显微探测方法及系统。采用样品固定、双管扫描器扫描微探针并且联动跟踪光束的方法，实现样品微纳米结构的原子力显微探测与扫描成像。它具有由双管扫描器、探针座、微探针、L形结构、联动透镜、激光器、光电位置探测器、样品、样品台等组成的双管扫描器联动跟踪型AFM探测头，以及由前置放大器、扫描与反馈控制单元、计算机等组成的扫描成像与反馈控制系统。本发明的优点是：样品尺寸和重量不受限制；与双管扫描器联动的光路系统，有效实现扫描时的光束跟踪；反射光路与Z反馈运动方向一致，避免反馈导致的伪信号及AFM图像失真；上下双层结构、相互正交二等分的双管扫描器，消除了耦合产生的图像畸变。
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公开(公告)号：CN102707093B
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201210192166.9
申请日：2012-06-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01Q60/24
Abstract: 本发明公开了一种双管扫描器联动跟踪型原子力显微探测方法及系统。采用样品固定、双管扫描器扫描微探针并且联动跟踪光束的方法，实现样品微纳米结构的原子力显微探测与扫描成像。它具有由双管扫描器、探针座、微探针、L形结构、联动透镜、激光器、光电位置探测器、样品、样品台等组成的双管扫描器联动跟踪型AFM探测头，以及由前置放大器、扫描与反馈控制单元、计算机等组成的扫描成像与反馈控制系统。本发明的优点是：样品尺寸和重量不受限制；与双管扫描器联动的光路系统，有效实现扫描时的光束跟踪；反射光路与Z反馈运动方向一致，避免反馈导致的伪信号及AFM图像失真；上下双层结构、相互正交二等分的双管扫描器，消除了耦合产生的图像畸变。
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公开(公告)号：CN118914769A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410958231.7
申请日：2024-07-17
Applicant: 浙江大学 , 宁波东方电缆股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种不同温度下不同厚度电缆绝缘击穿场强的计算方法。包括如下步骤：对不同厚度XLPE试样进行表面电位衰减实验，得到XLPE试样的表面电位衰减曲线；根据不同厚度XLPE试样的表面电位衰减曲线得到不同厚度XLPE试样的陷阱参数，将陷阱参数代入双极性载流子模型，计算XLPE试样内部电子能随加压时间的变化情况，当电子能大于表面电位衰减实验计算得到的陷阱能级时，XLPE试样判定击穿；记录不同厚度XLPE试样在不同温度下的直流击穿场强，构建XLPE试样的直流击穿场强预测模型。本发明可以准确评估各类不同XLPE试样的直流击穿场强，具有操作便捷、普适性强的优点，且通过与实际实验相比有较高的准确度。
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公开(公告)号：CN202631568U
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201220275151.4
申请日：2012-06-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01Q60/24
Abstract: 本实用新型公开了一种显微监控型可选区原子力显微成像装置。采用将光学显微监控与原子力显微镜（AFM）显微成像相结合以及将AFM扫描器与二维步进微动台相结合的方法，实现AFM扫描区域的显微监控及可选区AFM成像。它具有由激光器、半透半反棱镜、微探针、位置敏感元件、样品、样品台、扫描器、显微物镜、CCD、二维步进微动台等组成的AFM探头，以及由前置放大器、XY扫描与Z反馈控制单元、XYZ高压放大模块、步进控制模块、视频采集模块、计算机及硬件接口等组成的AFM成像与控制系统。本实用新型的优点是：实现微纳米样品扫描区域的实时监控与选区，可监控光路的调节与对准以及样品与微探针的逼近过程，克服了常规AFM技术在这些方面的随机性、盲目性和局限性。
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公开(公告)号：CN202599977U
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201220275141.0
申请日：2012-06-12
Applicant: 浙江大学
IPC: G01Q60/24
Abstract: 本实用新型公开了一种双管扫描器联动跟踪型原子力显微探测系统。采用样品固定、双管扫描器扫描微探针并且联动跟踪光束的方法，实现样品微纳米结构的原子力显微探测与扫描成像。它具有由双管扫描器、探针座、微探针、L形结构、联动透镜、激光器、光电位置探测器、样品、样品台等组成的双管扫描器联动跟踪型AFM探测头，以及由前置放大器、扫描与反馈控制单元、计算机等组成的扫描成像与反馈控制系统。本实用新型的优点是：样品尺寸和重量不受限制；与双管扫描器联动的光路系统，有效实现扫描时的光束跟踪；反射光路与Z反馈运动方向一致，避免反馈导致的伪信号及AFM图像失真；上下双层结构、相互正交二等分的双管扫描器，消除了耦合产生的图像畸变。
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