公开(公告)号：CN105675636B

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201610039399.3

申请日：2016-01-21

Applicant: 济南大学

Inventor： 赵丕琪 ,  芦令超 ,  刘贤萍 ,  王培铭 ,  李好新 ,  于龙 ,  王守德 ,  宫晨琛

IPC: G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明属于检测分析技术领域，具体涉及一种基于水泥基材料中石膏矿物的XRD定量分析方法，该定量分析方法是通过以下步骤实现的：样品粉磨，加入复配的溶剂制备悬浊液，通过自制的样品架进行制样，利用XRD射线衍射仪进行定量分析检测，应用本发明所述的制样方法，可以有效的降低水泥体系样品石膏矿物的择优取向程度，减小X射线衍射图谱强度偏差，获得理想的适于Rietveld精修定量的X射线衍射图谱，较正压法和背压法等制样方法可以得到更为准确的石膏矿物定量结果，本发明提供的制样方法简单，可操作性强。

公开(公告)号：CN105675636A

公开(公告)日：2016-06-15

申请号：CN201610039399.3

申请日：2016-01-21

Applicant: 济南大学

Inventor： 赵丕琪 ,  芦令超 ,  刘贤萍 ,  王培铭 ,  李好新 ,  于龙 ,  王守德 ,  宫晨琛

IPC: G01N23/20 ,  G01N1/28

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N1/286 ,  G01N23/2005

Abstract: 本发明属于检测分析技术领域，具体涉及一种基于水泥基材料中石膏矿物的XRD定量分析方法，该定量分析方法是通过以下步骤实现的：样品粉磨，加入复配的溶剂制备悬浊液，通过自制的样品架进行制样，利用XRD射线衍射仪进行定量分析检测，应用本发明所述的制样方法，可以有效的降低水泥体系样品石膏矿物的择优取向程度，减小X射线衍射图谱强度偏差，获得理想的适于Rietveld精修定量的X射线衍射图谱，较正压法和背压法等制样方法可以得到更为准确的石膏矿物定量结果，本发明提供的制样方法简单，可操作性强。