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公开(公告)号:CN102679904B
公开(公告)日:2014-11-05
申请号:CN201110430394.0
申请日:2011-12-20
Applicant: 河南科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种回转体零件的测量方法及测量仪,测量仪包括底座及固定在底座上的立柱、竖向导向移动装配于立柱上的光学测头,底座上于光学测头下方对应设有用于放置并旋转零件的工作台,工作台包括自下而上设置的回转台、角位移调整台,角位移调整台包括第一、二角位移台,第一、二角位移台分别包括第一、二偏摆平台,第一、二偏摆平台转动时所绕的偏摆轴线相互垂直且均与光学测头的光幕所在平面平行。本发明的测量仪中的角位移调整台,采用转动驱动机构分别驱动两个角位移台绕着与平行光源的光幕所在平面平行的偏摆轴线的偏摆,实现工作台偏摆角度的正交耦合调节,能够准确捕捉工件的空间位姿,保证对零件的精确定位及测量。
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公开(公告)号:CN102679904A
公开(公告)日:2012-09-19
申请号:CN201110430394.0
申请日:2011-12-20
Applicant: 河南科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种回转体零件的测量方法及测量仪,测量仪包括底座及固定在底座上的立柱、竖向导向移动装配于立柱上的光学测头,底座上于光学测头下方对应设有用于放置并旋转零件的工作台,工作台包括自下而上设置的回转台、角位移调整台,角位移调整台包括第一、二角位移台,第一、二角位移台分别包括第一、二偏摆平台,第一、二偏摆平台转动时所绕的偏摆轴线相互垂直且均与光学测头的光幕所在平面平行。本发明的测量仪中的角位移调整台,采用转动驱动机构分别驱动两个角位移台绕着与平行光源的光幕所在平面平行的偏摆轴线的偏摆,实现工作台偏摆角度的正交耦合调节,能够准确捕捉工件的空间位姿,保证对零件的精确定位及测量。
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公开(公告)号:CN202471019U
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN201120537698.2
申请日:2011-12-20
Applicant: 河南科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本实用新型公开了一种回转体零件的测量仪,测量仪包括底座及固定在底座上的立柱、竖向导向移动装配于立柱上的光学测头,底座上于光学测头下方对应设有用于放置并旋转零件的工作台,工作台包括自下而上设置的回转台、角位移调整台,角位移调整台包括第一、二角位移台,第一、二角位移台分别包括第一、二偏摆平台,第一、二偏摆平台转动时所绕的偏摆轴线相互垂直且均与光学测头的光幕所在平面平行。本实用新型的测量仪中的角位移调整台,采用转动驱动机构分别驱动两个角位移台绕着与平行光源的光幕所在平面平行的偏摆轴线的偏摆,实现工作台偏摆角度的正交耦合调节,能够准确捕捉工件的空间位姿,保证对零件的精确定位及测量。
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