公开(公告)号：CN101770816B

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：CN200910312031.X

申请日：2009-12-22

Applicant: 河南大学

Inventor： 张婷 ,  张伟风 ,  陈红举 ,  黄宗胤 ,  孙献文 ,  张奇惠 ,  王蓓 ,  高伟

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明涉及一种RRAM单元测试系统切换器及一种RRAM单元测试系统，该切换器主要由双联继电器构成，双联继电器的线圈通过光电耦合器与控制信号端口连接，由其带动相应的两个双掷开关实现信号同路的选择，该切换器与两种不同的信号源及主控计算机等构成了RRAM单元测试系统，实现了对RRAM单元测试过程中两种信号源的瞬时切换，更方便、更精确地实现对RRAM单元的电学和存储性能的测试。

公开(公告)号：CN101770816A

公开(公告)日：2010-07-07

申请号：CN200910312031.X

申请日：2009-12-22

Applicant: 河南大学

Inventor： 张婷 ,  张伟风 ,  陈红举 ,  黄宗胤 ,  孙献文 ,  张奇惠 ,  王培 ,  高伟

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明涉及一种RRAM单元测试系统切换器及一种RRAM单元测试系统，该切换器主要由双联继电器构成，双联继电器的线圈通过光电耦合器与控制信号端口连接，由其带动相应的两个双掷开关实现信号同路的选择，该切换器与两种不同的信号源及主控计算机等构成了RRAM单元测试系统，实现了对RRAM单元测试过程中两种信号源的瞬时切换，更方便、更精确地实现对RRAM单元的电学和存储性能的测试。