基于能量信息校正定时游动的方法、系统、设备和介质

    公开(公告)号:CN116068607A

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN202310089997.1

    申请日:2023-01-18

    Abstract: 本申请属于辐射探测技术领域,具体涉及一种基于能量信息校正定时游动的方法、系统、设备和介质。其中的方法应用于辐射探测系统中,包括:获取晶条探测到伽马光子后闪烁体探测器输出的实时脉冲信号;基于所述实时脉冲信号,提取得到脉冲信号能量信息;基于所述脉冲信号能量信息和预先针对该晶条建立的时间游动量与信号能量对应关系,确定相应的时间游动信息;基于所述时间游动信息校正从所述实时脉冲信号提取的前沿定时信息,得到校正后的前沿定时信息。通过本申请的方法能够有效校正辐射探测器的时间游动,提高辐射探测器定时精度。

    一种用于测量放射源活度的计数活度计

    公开(公告)号:CN114252900A

    公开(公告)日:2022-03-29

    申请号:CN202111424592.6

    申请日:2021-11-26

    Inventor: 郭维新 李楠

    Abstract: 本发明涉及一种用于测量放射源活度的计数活度计,包括:对称分布的两个辐射探测器、源放置平台、具有露出口的屏蔽结构、对应每一探测器的计数器及符合计数器、数据处理装置;源放置平台中放置有被测的放射源且正对露出口,屏蔽结构用于屏蔽被测放射源非被测部分的放射性进入辐射探测器;辐射探测器探测露出口的放射源的辐射事件,符合计数器连接两个辐射探测器的计数器,数据处理装置用于根据辐射探测器的射线计数率和符合计数器的符合计数率获取所述放射源的活度。本发明的计数活度计不需要做探测效率校正,就可以实现对发射正电子的放射源活度的绝对测量,并能够对较低活度的放射源做更准确的活度测量。

    一种基于移动触发阈方法评价SiPM探测器的方法

    公开(公告)号:CN111257919A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN202010071950.9

    申请日:2020-01-21

    Inventor: 郭维新 吴和宇

    Abstract: 本发明公开一种基于移动触发阈方法评价SiPM探测器的方法,该方法利用SiPM探测器自身各个像素点输出信号基本一致的准数字化特性,通过移动触发阈,统计触发事件计数率变化的方法,对SiPM的主要性能变化做实时的判断与评价。该方法可在不增加附属电路,不将SiPM单独拆出其应用环境的前提下评价其性能及长期变化趋势,提供了一种对SiPM探测器性能稳定性监控的便捷方案,并对其性能校正提供了参考数据。

    一种具有深度信息功能的阵列探测器及PET系统

    公开(公告)号:CN118244325A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410325321.2

    申请日:2024-03-21

    Inventor: 郭维新 吴和宇

    Abstract: 本发明涉及一种具有深度信息功能的阵列探测器及PET系统,属于辐射探测器领域,其包括光导、光电探测器和具有多个闪烁晶体的闪烁晶体阵列;光导光学耦合在所述闪烁晶体阵列的顶端,所述光电探测器光学耦合在所述闪烁晶体的底端,光导包括反射槽,用于反射闪烁光光子,以使所述闪烁光光子在相邻的所述闪烁晶体之间传播。其有益效果是,本发明在不增加闪烁晶体加工难度,不增加电路处理路数,且尽量少的损失探测灵敏度的前提下,经济可靠的得到了γ入射事件包括深度信息在内的位置信息、能量信息和时间信息,为消除DOI效应对系统空间分辨的影响提供了坚实的数据基础。

    一种闪烁体阵列发光衰减时间测试方法及装置

    公开(公告)号:CN109490940A

    公开(公告)日:2019-03-19

    申请号:CN201811533020.X

    申请日:2018-12-14

    Inventor: 吴和宇 郭维新

    Abstract: 本发明涉及辐射探测器技术领域,尤其涉及一种闪烁体阵列发光衰减时间测试方法及装置。本发明的一种闪烁体阵列发光衰减时间测试方法为光电探测阵列接受被测闪烁体阵列发出的闪烁光并转化成电脉冲信号;将得到的电脉冲信号传输到电阻网络中,整合成四路输出,四路输出的电脉冲信号分别经由4个前置放大器传送到脉冲形状分析系统得到四路脉冲形状信息;对得到的四路脉冲形状信息进行计算处理得到每个闪烁体发光事件的坐标位置和校正前闪烁体的发光衰减时间分布;对发光衰减时间校正,即得被测闪烁体阵列每条闪烁体的发光衰减时间分布。该方法可用于闪烁体阵列的光产额及时间性能评估,并大幅提高闪烁体光产额和发光衰减时间的测试挑选效率。

    一种动态符合时间窗的PET采集方法与系统

    公开(公告)号:CN119924859A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202411897779.1

    申请日:2024-12-23

    Inventor: 郭维新 吴和宇

    Abstract: 本发明涉及一种动态符合时间窗的PET采集方法与系统,该方法包括:获取被测目标的轮廓信息;根据轮廓信息生成每个扫描床位的轮廓圆柱体;根据各个轮廓圆柱体表面在PET视野中距离最远的两点距离分别确定每个床位的符合时间窗;基于每个床位的符合时间窗分别对每个床位进行PET数据采集;基于每个床位的符合时间窗分别对每个床位进行PET数据重建。其有益效果是,对每个床位的图像扫描设置相应的符合时间窗,从而减少随机事件对成像结果的噪声影响,提升数据的信噪比,改善成像质量。

    一种闪烁体阵列发光衰减时间测试方法

    公开(公告)号:CN109490940B

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201811533020.X

    申请日:2018-12-14

    Inventor: 吴和宇 郭维新

    Abstract: 本发明涉及辐射探测器技术领域,尤其涉及一种闪烁体阵列发光衰减时间测试方法及装置。本发明的一种闪烁体阵列发光衰减时间测试方法为光电探测阵列接受被测闪烁体阵列发出的闪烁光并转化成电脉冲信号;将得到的电脉冲信号传输到电阻网络中,整合成四路输出,四路输出的电脉冲信号分别经由4个前置放大器传送到脉冲形状分析系统得到四路脉冲形状信息;对得到的四路脉冲形状信息进行计算处理得到每个闪烁体发光事件的坐标位置和校正前闪烁体的发光衰减时间分布;对发光衰减时间校正,即得被测闪烁体阵列每条闪烁体的发光衰减时间分布。该方法可用于闪烁体阵列的光产额及时间性能评估,并大幅提高闪烁体光产额和发光衰减时间的测试挑选效率。

    一种获取闪烁体探测器能量信息的方法

    公开(公告)号:CN109507716B

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201811372563.8

    申请日:2018-11-16

    Inventor: 郭维新 吴和宇

    Abstract: 本发明涉及信号探测和信号处理领域,尤其涉及一种获取闪烁体探测器能量信息的方法,包括:在使用闪烁体探测器测量射线能谱时,采集N组符合事件的脉冲信号;依据预先确定的用于获取能量信息的高阈值和低阈值,统计所有脉冲信号中每一个脉冲信号的前沿时间段中高阈值所属时间点和低阈值所属时间点的差值;或,统计所有脉冲信号中每一个脉冲信号的后沿时间段中高阈值所属时间点和低阈值所属时间点的差值;对所有的高阈值所属时间点和低阈值所属时间点的差值进行处理,获得所述闪烁体探测器的能谱图。电路复杂程度低,信息处理量小,且获得的能量信息准确。

    一种获取闪烁体探测器能量信息的方法

    公开(公告)号:CN109507716A

    公开(公告)日:2019-03-22

    申请号:CN201811372563.8

    申请日:2018-11-16

    Inventor: 郭维新 吴和宇

    Abstract: 本发明涉及信号探测和信号处理领域,尤其涉及一种获取闪烁体探测器能量信息的方法,包括:在使用闪烁体探测器测量射线能谱时,采集N组符合事件的脉冲信号;依据预先确定的用于获取能量信息的高阈值和低阈值,统计所有脉冲信号中每一个脉冲信号的前沿时间段中高阈值所属时间点和低阈值所属时间点的差值;或,统计所有脉冲信号中每一个脉冲信号的后沿时间段中高阈值所属时间点和低阈值所属时间点的差值;对所有的高阈值所属时间点和低阈值所属时间点的差值进行处理,获得所述闪烁体探测器的能谱图。电路复杂程度低,信息处理量小,且获得的能量信息准确。

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