公开(公告)号：CN118822989A

公开(公告)日：2024-10-22

申请号：CN202410912249.3

申请日：2024-07-09

Applicant: 江苏科技大学

Inventor： 张礼华 ,  吴斌斌 ,  王叶松 ,  王维盼 ,  陈曙光 ,  许疆骁

IPC: G06T7/00 ,  G06V20/70 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06V10/80 ,  G06V10/766 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/084

Abstract: 本发明提出了一种基于RT‑DETR检测器的PCB表面缺陷检测方法，包括以下步骤S1、采集PCB缺陷图像，对PCB缺陷图像进行预处理，标注PCB缺陷图像信息中的缺陷类别，并构建PCB缺陷检测数据集；S2、构建由改进的骨干网络、改进的混合编码器和带辅助预测头的变压器解码器组成的初始缺陷检测模型；S3、构建最终的目标损失函数训练初始缺陷检测模型，以获取优化的缺陷检测模型；S4、根据PCB缺陷检测数据集和优化的缺陷检测模型，获取缺陷检测结果。本发明的方法不仅能够考虑小目标缺陷检测，还能对复杂背景进行有效抑制，建立了快速、精确的缺陷检测模型，对PCB质量决策具有重要意义。