一种滤光片计量性能快速检测方法

    公开(公告)号:CN113466158A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110925357.0

    申请日:2021-08-12

    Abstract: 本发明公开了一种滤光片计量性能快速检测方法,获取原始数据,根据标准滤光片的波长‑透射比原始数据进行峰值判断,得到特征波长点λ0、左侧离特征点最近的波谷/峰顶λ0(L)、右侧离特征点最近的波谷/峰顶λ0(R),对标准滤光片的波长‑透射比原始数据进行平滑处理,根据平滑后的波长‑透射比数据得到离特征点最近的波肩,确定与特征波长点λ0最近的拐点,根据确定的特征波长点λ0以及与特征波长点λ0最近的拐点λmin确定其他计量性能指标。本发明无需人工作图计算,能够快速、准确、高效得出标准滤光片计量性能指标。

    一种滤光片计量性能快速检测方法

    公开(公告)号:CN113466158B

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202110925357.0

    申请日:2021-08-12

    Abstract: 本发明公开了一种滤光片计量性能快速检测方法,获取原始数据,根据标准滤光片的波长‑透射比原始数据进行峰值判断,得到特征波长点λ0、左侧离特征点最近的波谷/峰顶λ0(L)、右侧离特征点最近的波谷/峰顶λ0(R),对标准滤光片的波长‑透射比原始数据进行平滑处理,根据平滑后的波长‑透射比数据得到离特征点最近的波肩,确定与特征波长点λ0最近的拐点,根据确定的特征波长点λ0以及与特征波长点λ0最近的拐点λmin确定其他计量性能指标。本发明无需人工作图计算,能够快速、准确、高效得出标准滤光片计量性能指标。

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