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实用新型
一种二维薄膜的电子透过率测量装置有权

公开(公告)号：CN220084738U

公开(公告)日：2023-11-24

申请号：CN202321523837.5

申请日：2023-06-14

Applicant: 江苏省特种设备安全监督检验研究院

Inventor： 刘峥 , 刘雨鑫 , 熊立斌 , 程小豹 , 区炳显 , 王荣霞 , 虞浩天

IPC: G01N23/2251 , G01N23/2204

Abstract: 本实用新型涉及一种二维薄膜的电子透过率测量装置，包括电子显微镜、样品支架和法拉第杯组件，所述法拉第杯组件和样品支架放置于所述电子显微镜的样品仓内；所述法拉第杯组件通测量电路连接测量仪表，所述测量仪表位于所述样品仓外；所述法拉第杯组件上部安装有绝缘支架，所述绝缘支架上安装所述样品支架，所述样品支架上放置样件，所述样件包括待检测的二维薄膜材料；所述二维薄膜材料与所述电子显微镜发射的聚焦电子束对应，所述法拉第杯组件用于接收电子，所述测量电路将所述法拉第杯组件接收的电子转化成电流后导出至所述测量仪表，从而能够完成连续能量分布的低能电子在二维薄膜材料中透过率的测量。

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