一种应用于FLASH存储器的测试方法、测试平台及控制芯片

    公开(公告)号:CN118553299A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202310180399.5

    申请日:2023-02-24

    Applicant: 江苏大学

    Inventor: 李彦旭 耿标标

    Abstract: 本发明公开了一种应用于FLASH存储器的测试方法、测试平台及控制芯片,包括测试主机、TCP/IP通信模块、命令解析模块、FLASH存储器控制模块、读写数据比较模块与结果显示模块,测试主机发送测试数据及命令;TCP/IP通信模块接收测试数据及命令并发送到命令解析模块;命令解析模块把解析出来的测试数据缓存在数据接收缓存中,把解析出来的读、写、擦除相关命令发送到FLASH存储器控制模块;FLASH存储器控制模块对FLASH进行控制操作;读写数据比较模块比较写入的数据与读出的数据并把结果发送到结果显示模块;结果显示模块显示每个存储地址的比较结果、判断该存储地址是否存在故障。本发明测试过程自动化、测试结果可视化、结果精确化,缩短了测试时间,提高了测试效率。

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