公开(公告)号：CN106911331A

公开(公告)日：2017-06-30

申请号：CN201710064217.2

申请日：2017-02-04

Applicant: 武汉科技大学

Inventor： 彭习武 ,  张涛 ,  朱席鼎 ,  张云福

IPC: H03M1/06 ,  H03M1/12

CPC classification number: H03M1/0607 ,  H03M1/1215

Abstract: 本发明公开了一种时间交织型ADC系统的数字校验电路及实时校验方法，所述数字校验电路包括多个子通道时间交织ADC系统，ADC1，……，ADCL，其中，所述L为正整数；在第一时刻t1，输入信号x(t)、输出y(n)分别与所述ADC1连接；在一预设时刻tk，输入信号x(t)、输出y(n)分别与所述ADCk连接，其中，tk为第k时刻，ADC1保持t1时刻的输入，ADC2保持t2时刻的输入，……，ADCk‑1保持tk‑1时刻的输入；在所述多个子通道时间交织ADC系统前还连接有第一转换开关，在所述多个子通道时间交织ADC系统后还连接有第二转换开关。